[发明专利]半导体激光器局部均匀度的检测方法、装置及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种半导体激光器局部均匀度的检测方法，包括：步骤1：待测激光器向接收平面发射红外激光，红外摄像头向接收平面拍摄红外激光得到激光图像；步骤2：将激光图像中的激光区域分割为多个子区域，以相邻的若干子区域作为一个局部区域，依据同一局部区域内各个子区域的亮度平均值，判断待测激光器的局部均匀度是否合格。该检测方法可检测出半导体激光器的局部亮度是否均匀，以进行品质管控。本发明还公开了一种半导体激光器局部均匀度的检测装置及可读存储介质。

技术领域

本发明涉及激光技术，尤其涉及一种半导体激光器局部均匀度的检测方法、装置及可读存储介质。

背景技术

随着半导体激光技术的发展，半导体激光器被广泛应用于光通信、光互连、光存储、激光扫描和三维成像等领域。在照射范围内，红外激光的局部亮度是否均匀，是半导体激光器的一项重要指标，影响着半导体激光器的使用性能，对于生产厂商来说，有必要在出厂前对半导体激光器的局部均匀度进行检测，以进行品质管控。

发明内容

为了解决上述现有技术的不足，本发明提供一种半导体激光器局部均匀度的检测方法，可检测出半导体激光器的局部亮度是否均匀，以进行品质管控。

本发明还提供一种半导体激光器局部均匀度的检测装置及可读存储介质。

本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：

一种半导体激光器局部均匀度的检测方法，包括：

步骤1：待测激光器向接收平面发射红外激光，红外摄像头向接收平面拍摄红外激光得到激光图像；

步骤2：将激光图像中的激光区域分割为多个子区域，以相邻的若干子区域作为一个局部区域，依据同一局部区域内各个子区域的亮度平均值，判断待测激光器的局部均匀度是否合格。

进一步地，步骤2包括：

步骤2.1：在激光图像中确定激光区域的区域范围；

步骤2.2：依据多个等分角度将激光区域分割为多个子区域；

步骤2.3：将多个子区域分为多个局部区域，每个局部区域包含若干相邻的子区域；

步骤2.4：计算出每个局部区域内的子区域之间的亮度比值；

步骤2.5：依据每个亮度比值，判断待测激光器的局部均匀度是否合格。

进一步地，步骤2.1包括：

步骤2.1.1：获取激光区域在上下左右四侧上的最边缘像素点；

步骤2.1.2：依据四侧最边缘像素点所在的横直线或纵直线作为激光区域的四侧边缘直线，得到激光区域的区域范围。

进一步地，步骤2.1.1包括：

步骤2.1.1.1：在激光图像中，选取激光区域中亮度值较大的至少一像素点，计算出平均亮度值；

步骤2.1.1.2：以平均亮度值的一定比例作为二值化阈值，对激光图像进行二值化得到二值化图像；

步骤2.1.1.3：在二值化图像中，获取激光区域在上下左右四侧上的最边缘像素点。

进一步地，在步骤2.2中，将待测激光器的FOV等分为多个等分角度，依据多个等分角度将激光区域分割为多个子区域。

进一步地，待测激光器和红外摄像头的光轴重合且垂直于接收平面，在步骤2.2中，以激光图像的横向作为X轴、纵向作为Y轴，建立直角坐标系XY，每个子区域的左右两侧边的横向坐标x1和x2以及上下两侧边的纵向坐标y1和y2满足以下方程：

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