[发明专利]一种光学系统标定方法在审
申请号: | 201811597159.0 | 申请日: | 2018-12-26 |
公开(公告)号: | CN109724621A | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 康玉思;谭向全;郭永飞;吴清文;张旭升;王忠素;姜爱民;陈立恒;申军立;郭亮;徐振邦 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;G01D18/00 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 吴乃壮 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学系统 经纬仪 自准直 准直 调整光学系统 标定 位姿 基准统一 可旋转的 准确度 导光臂 校准镜 导光 平行 | ||
本发明提供了一种光学系统标定方法,所述方法包括以下步骤:调节自准直经纬仪通过校准镜与基座准直;自准直经纬仪发出的光经由可旋转的导光臂导光后,分别进入基座上各个光学系统;调整光学系统在基座上的位姿,使得各个光学系统之间分别与自准直经纬仪准直。本发明通过调整光学系统在基座上的位姿,使得各个光学系统分布于自准直经纬仪准直,从而使得各个光学系统之间保持平行,具有基准统一、速度快、准确度高等优点。
技术领域
本发明涉及光学设备领域,尤其涉及一种光学系统标定方法。
背景技术
使用光学系统进行测量是常用手段,使用多组光学系统对同一目标进行测量,可以通过识别光学系统之间的变化来测量目标的变化,因此对多组光学系统之间的位姿标定,尤其是平行性的标定具有十分重要意义。然而现有技术,对于多个光学系统的平行性标定存在着基准不统一、效率低、精度差等问题。
发明内容
为此,需要提供一种光学系统标定设备,用以解决现有技术中光学系统的平行性标定基准不统一、导致效率低、精度差等问题。
为实现上述目的,发明人提供了一种光学系统标定方法,所述方法包括以下步骤:
调节自准直经纬仪通过校准镜与基座准直;
自准直经纬仪发出的光经由可旋转的导光臂导光后,分别进入基座上各个光学系统;
调整光学系统在基座上的位姿,使得各个光学系统之间分别与自准直经纬仪准直。
进一步地,所述方法应用于光学系统标定设备,所述设备包括自准直经纬仪、校准镜、导光臂、基座和多个光学系统;
进一步地,所述设备包括旋转装置,所述旋转装置与导光臂传动连接,所述导光臂能够在旋转装置的驱动下发生转动,以使得自准直经纬仪发出的光线分别进入各个光学系统。
进一步地,所述导光臂包括2块相互平行的平板玻璃,导光臂的平板玻璃与自准直经纬仪发出的光线呈45°夹角。
进一步地,所述光学系统的数量为三组,三组光学系统以校准镜为圆心呈品字形分布。
进一步地,所述光学系统的数量为四组,四组光学系统以校准镜为圆心呈正方形均匀分布。
进一步地,所述光学系统的数量为多组,多组光学系统以校准镜为圆心呈圆周分布。
进一步地,各个光学系统相同。
本发明提供了一种光学系统标定方法,所述方法包括以下步骤:调节自准直经纬仪通过校准镜与基座准直;自准直经纬仪发出的光经由可旋转的导光臂导光后,分别进入基座上各个光学系统;调整光学系统在基座上的位姿,使得各个光学系统之间分别与自准直经纬仪准直。本发明通过调整光学系统在基座上的位姿,使得各个光学系统分布于自准直经纬仪准直,从而使得各个光学系统之间保持平行,具有基准统一、速度快、准确度高等优点。
附图说明
图1为本发明一实施例涉及的光学系统标定设备的结构示意图;
图2为本发明一实施例涉及的光学系统光学系统分布的示意图;
图3为本发明一实施例涉及的光学系统标定方法的流程图;
附图标记:
1、自准直经纬仪;2、校准镜;3、导光臂;4、光学系统;5、基座。
具体实施方式
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