[发明专利]基于SOC ATE定位存储器失效位的方法及测试系统

说明书

本发明公开了一种基于SOC ATE定位存储器失效位的方法及测试系统，包括：生成测试向量；将测试向量转化成物理波形信号；将物理波形信号输入至待测芯片中进行测试；将测试得到的结果(引脚pass‑fail信息)以字符形式按行存储至RAM中；ATE从RAM中读取各失效向量所指的失效位的数据引脚状态和相对应的地址引脚状态；构造以字符表示的引脚状态与以数值表示的引脚状态的对应关系；将各失效位的地址引脚状态和数据引脚状态由字符形式转换为数值形式输出。本发明在不增加硬件资源的基础上将基于SOC ATE的向量模式测试得到的字符数据快速转换为数值数据，方便地对存储器进行失效定位和失效分析，提高利用SOC ATE开发存储器测试程序的效率。

技术领域

本发明涉及微电子及半导体集成电路制造领域，具体涉及存储器测试技术，特别属于一种基于SOC ATE定位存储器失效位的方法及测试系统。

背景技术

存储器(Memory)结构简单对称，用来存放或者暂时存放参与运算的数据和运算结果，在电子通讯产品中获得了广泛的应用。随着集成电路设计技术的发展，已有越来越多的存储器内嵌或外挂到ASIC芯片、FPGA芯片中使用。

但是，存储器经常出现一些故障，例如存储器读写功能不正确或者一个存储器的数据受到其它存储器的数据或读写操作的影响而发生变化，因此在大规模生产之前和新存储器的开发过程中对存储器进行项目测试是非常重要的。而在存储器的测试过程中，如何对存储器的失效位(fail bits)进行准确定位对于测试程序调试以及对存储器进行失效分析都有至关重要的作用。

对存储器进行测试的一种方法是采用通用存储器ATE(Automatic TestEquipment，即自动测试设备)通过ALPG(algorithmic pattern generator，即算法模式发生器)模式，原理如图1所示，首先由发生器产生存储器地址(Memory address)和存储器数据(Memory data)，然后按照一定的ALPG算法进行计算，接着将ALPG算法得到的存储器地址和存储器数据的预期结果按照一定的对应关系转化成存储器的地址引脚(address pin)和数据引脚(data pin)的状态，再然后ATE将存储器的地址引脚状态和数据引脚状态给到待测芯片DUT(所述待测芯片中包含待测的存储器)中进行测试，最后将待测芯片输出管脚的状态存储在与存储器地址相同的RAM区域当中，并将输出的引脚状态与ALPG算法预期得到的引脚状态相比较，找出存储器的失效位。

由于ALPG模式中失效位的存储地址与RAM的失效地址fail address相同，因此就能从存储区域RAM中方便地读取存储器的失效地址(fail address)和失效数据(faildata)。

利用通用存储器ATE定位失效位的流程，如图2所示，包括如下步骤：

步骤S1，生成存储器地址和存储器数据；

步骤S2，利用ALPG算法对存储器地址和存储器数据进行计算；

步骤S3，按照对应关系将ALPG算法得到的存储器地址和存储器数据转换为地址引脚状态和数据引脚状态；

步骤S4，ATE将地址引脚状态和数据引脚状态对应输入至待测芯片中进行测试；

步骤S5，ATE将测试得到的数据结果分别按照其所在存储器地址存储至RAM的相同地址中；

步骤S6，ATE将RAM中的存储器数据与ALPG算法得到的存储器预期数据进行比较，读取失效地址和失效数据(如图1所示的斜体数据部分)，同时将ALPG算法得到的存储器数据作为预期值输出。

上述采用存储器ATE通过ALPG模式定位存储器失效位的方法虽然可以准确定位失效位，但是测试过程需要进行算法编程，导致测试效率较低。