[发明专利]基于SOC ATE定位存储器失效位的方法及测试系统有效
| 申请号： | 201811581016.0 | 申请日： | 2018-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN109524055B | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 舒颖;李强;郑鹏飞 | 申请（专利权）人： | 上海华力集成电路制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 栾美洁 |
| 地址： | 201315 上海市浦东新区中国（上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 soc ate 定位 存储器 失效 方法 测试 系统 | ||
1.一种基于SOC ATE定位存储器失效位的方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤S1，生成至少一个测试向量；
步骤S2，将测试向量按照波形表转化成物理波形信号；
步骤S3，ATE将物理波形信号输入至待测芯片中进行测试；
步骤S4，ATE将引脚pass-fail信息以字符形式按行存储至RAM中；
步骤S5，ATE从RAM中读取各失效向量所指的失效位的数据引脚状态和相对应的地址引脚状态；
步骤S6，构造以字符表示的引脚状态与以数值表示的引脚状态的对应关系；
步骤S7，将各失效位的地址引脚状态和数据引脚状态由字符形式转换为数值形式输出。
2.根据权利要求1所述的基于SOC ATE定位存储器失效位的方法，其特征在于，在步骤S6中，针对地址引脚和数据引脚分别构造字符形式数据与数值形式数据之间的对应关系。
3.根据权利要求2所述的基于SOC ATE定位存储器失效位的方法，其特征在于，所述数值形式数据采用二进制数据。
4.根据权利要求3所述的基于SOC ATE定位存储器失效位的方法，其特征在于，以字符形式表示地址引脚状态和数据引脚状态的数据所包含的字符数与以二进制数据表示地址引脚状态和数据引脚状态的位数相同。
5.根据权利要求4所述的基于SOC ATE定位存储器失效位的方法，其特征在于，在步骤S4中，表示地址引脚状态和数据引脚状态的字符数据包含至少一个字符。
6.根据权利要求4所述的基于SOC ATE定位存储器失效位的方法，其特征在于，
表示地址引脚状态的字符包括‘0’和‘1’，与字符‘0’相对应的二进制数据为0，与字符‘1’相对应的二进制数据为1；
表示数据引脚状态的字符包括‘H’和‘L’，与字符‘H’相对应的二进制数据为1，与字符‘L’相对应的二进制数据为0。
7.根据权利要求3所述的基于SOC ATE定位存储器失效位的方法，其特征在于，在步骤S7中，将各失效位的所有地址引脚以及所有数据引脚的二进制数据以十六进制输出。
8.一种基于SOC ATE定位存储器失效位的测试系统，其特征在于，包括：
测试向量产生模块，用于生成测试向量；
波形转换模块，用于将测试向量产生模块输出的测试向量转换为物理波形信号；
驱动模块，用于将物理波形信号作为激励施加在待测芯片上并将采集到的引脚pass-fail信息以字符形式按行存储至RAM中，同时从RAM中输出失效位的数据引脚状态和相对应的地址引脚状态；
数据结构构造模块，用于针对引脚类型分别构造以字符表示的引脚状态与以数值表示的引脚状态的对应关系；
数据转换模块，用于将比较模块输出的各失效位的地址引脚状态和数据引脚状态由字符形式转换为数值形式；
输出模块，用于输出失效位的地址信息和数据信息。
9.根据权利要求8所述的基于SOC ATE定位存储器失效位的测试系统，其特征在于，所述数值形式采用二进制。
10.根据权利要求9所述的基于SOC ATE定位存储器失效位的测试系统，其特征在于，以字符形式表示地址引脚状态和数据引脚状态的数据所包含的字符数与以二进制数据表示地址引脚状态和数据引脚状态的位数相同。
11.根据权利要求10所述的基于SOC ATE定位存储器失效位的测试系统，其特征在于，表示地址引脚状态和数据引脚状态的字符数据包含至少一个字符。
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