[发明专利]一种工业CT伪影校正方法

权利要求书

1.一种工业CT伪影校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)基于正投影法获得被测对象的伪影场F(x,y)并对其进行阈值分割，设所述伪影场F(x,y)中灰度值在[a,b]范围内的图像区域为S(x,y)，该区域包含被测对象及受伪影强干扰的背景区域；

(2)实际CT图像为Q(x,y)，提取所述实际CT图像Q(x,y)中除去S(x,y)的背景区域，得到伪影弱干扰背景图像G(x,y)，对G(x,y)进行灰度直方图h₂(Z)统计，并计算h₂(Z)的最大峰值的像素灰度值g；

(3)提取实际CT图像Q(x,y)中包括S(x,y)的背景区域，得到前景及伪影强干扰背景图像H(x,y)，对H(x,y)进行灰度直方图h₁(Z)统计，并通过最大类间方差法获取将H(x,y)中前景与伪影强干扰背景图像进行分割的阈值T，对h₁(Z)在[0,T]范围内的灰度直方图h₁(Z_i)进行最小残差法高斯拟合，获取最佳拟合高斯曲线f₁(i)；

(4)计算步骤(3)中f₁(i)的概率密度函数PDF(x)，归一化处理后得到PDF_nor(x)；

(5)对实际CT图像Q(x,y)的每个像素点(a,b)进行局部灰度统计分析，获取该像素点中占比像素灰度值最大的灰度V(a,b)，并计算该灰度V(a,b)对应的归一化的概率密度函数PDF_nor(V(a,b))；

(6)计算h₁(Z)在[0,T]范围内的最大峰值像素灰度值w，即为受伪影强干扰的背景区域的像素最大峰值灰度值；计算h₁(Z)在[T+1,L-1]范围内的最大峰值像素灰度值q，即为被测对象区域的像素最大峰值灰度值；其中，L-1为最大像素灰度值；

(7)对受伪影强干扰的背景区域的像素灰度值k进行校正，校正后的像素灰度值

(8)对Q(x,y)各个像素灰度值进行校正处理，校正后的CT图像

2.根据权利要求1所述的工业CT伪影校正方法，其特征在于，步骤(1)具体包括：设被测对象为T(x,y)，其中0≤x≤m，0≤y≤n，其中，为被测对象内部及表面区域，图像中任意一点(a,b)在任意角度θ的线积分K_θ(a,b)为：

设伪影正投影数组为f(x,y)，利用K_θ(a,b)进行周向累积计算，将f(x,y)进行灰度级映射成像F(x,y)，

伪影场其中，Z表示所成图像的像素灰度级，S(x,y)＝{F(x_i,y_i)∈[a,b]}。

3.根据权利要求1所述的工业CT伪影校正方法，其特征在于，步骤(2)中，G(x,y)＝Q(x,y)-Q(x,y)∩S(x,y)，对G(x,y)进行灰度直方图h₂(Z)统计，其中，Z表示所成图像的像素灰度值。