[发明专利]液晶介电常数测试装置

说明书

本发明适用于液晶测试设备技术领域，提供了一种液晶介电常数测试装置，包括机架和安装在机架上的顶升单元、移动单元、第一载板、第二载板、厚度测试单元和介电常数测试单元，厚度测试单元位于第一载板的上方，介电常数测试单元位于第二载板处，第一载板的端部和第二载板的端部接触，移动单元设置在第一载板和第二载板的两侧，顶升单元设置在第一载板远离第二载板的端部，移动单元、第一载板和第二载板上均设有吸气孔，顶升单元用于控制液晶板的垂直高度，移动单元用于运送液晶板，厚度测试单元用于测试液晶板的厚度，介电常数测试单元用于测试液晶板的介电常数。装置本体结构简单，具有造价成本低的特点。

技术领域

本发明属于液晶测试设备技术领域，尤其涉及一种液晶介电常数测试装置。

背景技术

随着电子技术不断的发展进步，对液晶材料在微波频段的介电常数进行精确测量是进行液晶微波器件设计与分析的关键。现有的对液晶材料在微波频段的介电常数的测量方法主要有三类：第一是微扰法，第二是谐振法，第三是移相器法。其中，微扰法的测量精度比较高，但测量装置结构复杂、造价高；移相器法的测量装置的结构比微扰法的测量装置的结构简单，但移相器法对结构件加工的精密度要求很高，同时需要配合强静磁场对液晶材料施加偏置磁场，因此结构仍然较为复杂，而且存在造价高的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种液晶介电常数测试装置，以解决现有技术中液晶测试设备复杂、造价高的问题。

为解决上述技术问题，本发明所采取的技术方案是：一种液晶介电常数测试装置，包括机架和安装在机架上的移动单元、第一载板、第二载板、厚度测试单元和介电常数测试单元，所述厚度测试单元位于所述第一载板的上方，所述介电常数测试单元位于所述第二载板处，所述第一载板的端部和所述第二载板的端部接触，所述移动单元设置在所述第一载板和所述第二载板的两侧，所述移动单元、所述第一载板和所述第二载板上均设有吸气孔，所述移动单元用于运送液晶板，所述第一载板和所述第二载板均用于放置液晶板，所述厚度测试单元用于测试液晶板的厚度，所述介电常数测试单元用于测试液晶板的介电常数。

进一步地，所述移动单元第一承重板、第二承重板、横板、气动滑轨、导轨和顶升气缸，所述气动滑轨和所述导轨平行设置在所述第一载板和所述第二载板的两侧，所述横板的一端连接所述气动滑轨的滑块上，所述横板的另一端和所述导轨滑动连接，所述第一承重板和所述第二承重板平行设置在所述第一载板和所述第二载板的两侧，所述第一承重板和所述第二承重板的顶部均设有带有吸气孔的凸台定位结构，所述顶升气缸安装在所述第一载板和第二载板下方的平行板的下方。

进一步地，所述厚度测试单元包括设置在所述第一载板上方第一滑动器、第二滑动器和激光测距传感器，所述第二滑动器连接所述第一滑动器的滑块上，所述激光测距传感器固定在所述第二滑动器的滑块上，所述第一滑动器长度方向的轴线和所述第二滑动器长度方向的轴线相互垂直。

进一步地，所述介电常数测试单元包括：

相对设置的第一基板和第二基板；

依次设置于所述第一基板朝向所述第二基板一面上的导电层和第一配向膜，所述导电层配置为接收第一电压信号；

依次设置于所述第二基板朝向所述第一基板一面上的谐振结构层和第二配向膜，所述谐振结构层配置为接收第二电压信号，且配置为传输微波信号；

设置于所述第一基板和所述第二基板之间的边框，所述边框配合所述第一基板和所述第二基板形成用于容纳待测量的液晶的空腔。

进一步地，所述谐振结构层包括：

复合谐振结构，包括间隔设置的主谐振结构和从谐振结构，所述主谐振结构的品质因数小于所述从谐振结构的品质因数；

分别设置于所述主谐振结构两端的第一信号线和第二信号线，所述第一信号线用于接收微波信号，所述第二信号线用于输出微波信号；