[发明专利]一种基于特征点追踪的桥梁非接触式变形测量方法有效
申请号: | 201811452458.5 | 申请日: | 2018-11-30 |
公开(公告)号: | CN109559348B | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 张建;于姗姗;朱程鹏 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G06T7/73 | 分类号: | G06T7/73;G06T7/33 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 蓝霞 |
地址: | 210096 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 特征 追踪 桥梁 接触 变形 测量方法 | ||
1.一种基于特征点追踪的桥梁非接触式变形测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)图像采集:加载前,将相机架设于桥面测点位置,调整相机镜头聚焦至竖向变形可忽略的结构位置,并采集初始参考图;正式加载后,相机继续采集图像,作为变形图;
(2)预估结构的最大绝对像素位移A;
(3)标定尺度参数s:采用激光测距仪测量相机CCD靶面距离聚焦位置的距离多次测量取均值,求尺度参数s1;通过结构已知物理尺寸在图像中的像素距离,标定尺度参数s2,得s=(s1+s2)/2;s1的公式如下:
式中,L是测点到相机光心的距离,lps是相机的像元尺寸,f为镜头焦距,(x,y)是测点像素坐标,(xc,yc)是图像中心的像素坐标;
(4)在参考图中框选计算区域,采用经典的SURF检测器,对参考图和变形图进行特征点检测,对最终确定的稳定特征点求解亚像素坐标;
(5)设定搜索半径R=A,根据参考图中的待匹配特征点坐标,在变形图中筛选出与待匹配特征点的像素坐标距离不超过R的目标特征点;
(6)基于BRISK描述器求解待匹配特征点和目标特征点的梯度和主方向,进而得到二进制描述符;
(7)基于描述符进行特征点匹配:求解待匹配特征点和各目标特征点之间的Hamming距离,以该距离最小作为原则,完成特征点匹配;
(8)对特征点在变形前后图像中的亚像素纵坐标作差,得到亚像素位移d;
(9)通过尺度参数将亚像素位移转换成物理位移D,得到不动基点相对测点的竖向位移。
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