[发明专利]一种逻辑基的轨迹起始方法、系统、电子装置和存储介质

权利要求书

1.一种逻辑基的轨迹起始方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤1、利用前两个扫描周期的测量集形成试探性轨迹集，其方法是依次从这两个测量集中各取出一个测量，并用所取出的两个测量形成一测量组，测试所述测量组中的两个测量是否满足预设的速度条件，若满足所述预设的速度条件，用所述测量组中的两个测量形成一个试探性轨迹，并用这两个测量估计所述试探性轨迹的状态和协方差；若有多个测量组满足预设的速度条件，用每一个满足预设速度条件的测量组中的两个测量建立一个试探性轨迹，最终形成试探性轨迹集；

步骤2、利用第三个扫描周期的测量集对新轨迹加以确认，确认的方法是从所述试探性轨迹集中取出一个试探性轨迹，从第三个扫描周期的测量集中取出一个测量；用取出的试探性轨迹确定出所述取出的试探性轨迹在第三个扫描周期的预测状态，并以所述预测状态为中心建立一接收门，如果所取出的测量落入到所述接收门内，确认所取出的试探性轨迹为一个新轨迹，并用所述试探性轨迹和所取出的测量获得所述新轨迹的状态估计和协方差估计；重复上述方法，确认出所述试探性轨迹集中所有可能的新轨迹，获得所有可能的新轨迹的状态估计和协方差估计；

设三个扫描周期的测量集为Y_k、Y_k+1和Y_k+2，其中和N_k、N_k+1和N_k+2分别表示测量集Y_k、Y_k+1和Y_k+2中测量的数目，t_k、t_k+1和t_k+2分别表示三个扫描周期的时间，表示第一个扫描周期的测量集Y_k中的第e个测量，其中e＝1,2,…,N_k，和分别表示测量z_k,e的x分量和y分量，表示第二个扫描周期的测量集Y_k+1中的第f个测量，其中f＝1,2,…,N_k+1，和分别表示测量z_k+1,f的x分量和y分量，表示第三个扫描周期的测量集Y_k+2中的第g个测量，其中g＝1,2,…,N_k+2，和分别表示测量z_k+2,g的x分量和y分量；

所述步骤1中利用前两个扫描周期的测量集形成试探性轨迹集的具体方法为：

分别从前两个扫描周期的测量集Y_k和Y_k+1中各取出一个测量z_k,e和z_k+1,f形成一测量组，其中e＝1,2,…,N_k，f＝1,2,…,N_k+1；

测试该测量组中的两个测量z_k,e和z_k+1,f是否满足下列预设的速度条件：

其中，v_min和v_max分别为最小速度和最大速度，||·||₂表示向量的2范数；

若该测量组中的两个测量z_k,e和z_k+1,f满足所述预设的速度条件，利用所述两个测量z_k,e和z_k+1,f形成一试探性轨迹，然后用最小二乘法估计所述试探性轨迹的状态和协方差，估计方法如下：

利用已形成试探性轨迹的所述测量组中的两个测量z_k,e和z_k+1,f形成列向量m_y，得到

用表示所述试探性轨迹在第二个扫描周期的状态向量，其中和分别表示位置的x分量和y分量，和分别表示速度的x分量和y分量；

令则所述试探性轨迹在第二个扫描周期的状态估计为

令其中，σ_x和σ_y分别为x方向和y方向测量噪声的方差，则所述试探性轨迹在第二个扫描周期的协方差估计为

在一个测量组的测试完成后，分别从测量集合Y_k和Y_k+1中再取出一个测量形成下一测量组，重复执行测试所述测量组中的两个测量是否满足预设的速度条件的操作，直至所有的测量组合都进行了测试；

测试结束后，用测试获得的试探性轨迹形成试探性轨迹集，表示为其中N_c表示试探性轨迹的数目，

所述步骤2中利用第三个扫描周期的测量集对新轨迹加以确认的具体方法为：

从所述试探性轨迹集中取一个试探性轨迹从所述第三个扫描周期的测量集Y_k+2中取一测量z_k+2,g，测试所述测量z_k+2,g是否落入到所述试探性轨迹的接收门内，测试所用的公式为

其中，g₀为预设的门限，其取值范围为1～4；

若公式不成立，则所述测量z_k+2,g未落入所述试探性轨迹的接收门；

若所述公式成立，则所述测量z_k+2,g落入试探性轨迹的接收门内，确认所述试探性轨迹为一新轨迹，然后估计新轨迹的状态与协方差，估计方法如下：

所述新轨迹在第三个扫描周期的状态估计为

其中，

所述新轨迹在第三个扫描周期的协方差估计为

在对所述试探性轨迹和测量z_k+2,g的测试完成后，再分别从所述试探性轨迹集和所述第三个扫描周期的测量集中取一个试探性轨迹和一个测量形成下一个组合，重复以上测试操作，直至所有的组合都进行了测试；

在测试结束后，用测试获得的新轨迹形成轨迹集，所述轨迹集表示为其中N_r表示新轨迹的数目，