[发明专利]测定方法、装置及测定设备

说明书

本申请实施例提供一种测定方法、装置及测定设备，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，该方法包括：向显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；接收图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像；对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度。本申请提供的测定方案通过图像采集及图像分析这种非接触、不破坏性的方式以得到显示模组的光程不均匀度，实用性更强并且不受幅面尺寸的影响。

技术领域

本发明涉及光学图像处理技术领域，具体而言，涉及一种测定方法、装置及测定设备。

背景技术

现有裸眼3D显示技术基于在平板显示器件(LCD，LED，OLED等)上贴覆能起到分光作用的周期性光学微结构阵列(膜材、板材衬底上的狭缝或柱透镜，以下简称光栅膜)，配合特定的多视点图像交织方法，而呈现出立体效果。

光栅膜周期性单元排列方向和显示屏像素排列方向存在夹角，光栅膜切割、贴合的过程中这个角度存在一定的容许浮动工艺偏差，一般在0.1°的量级。而为了达到理想的3D效果，这个角度和视图交织排列方向的角度偏差需要控制在0.005°的量级。这一背离需要在软件上进行修正，为此，一般采用生成红绿点阵测试图的方式，基于图形只有与光栅膜角度吻合、节距符合透视关系时才能够在特定距离白幕上呈现宏观条纹的原理，通过改变测试图生成规则中的方向余切、周期因子两个变量的步长，得到条纹最清晰的一组参数，以作为3D软件视图交织排列的基本参数。

然而，上述方式只有在光栅膜均匀、平整地贴合于显示屏像素之上时才适用，当由于基材翘曲、胶层厚薄不均或应力、收缩等原因而导致点阵交织测试图经光栅折射后在大范围内不能形成均匀等距平直的条纹的情况下，这时在整个允许范围内都无法找到合适的一组视图合成参数以使在观看距离的幕布上呈现清晰条纹，也就是参数标定会失败。同样地，这样的显示器也难以呈现出理想的立体显示效果，局部容易出现重影、波浪纹等现象。

为了找到产生不均匀的原因，形成品质控制标准，作为原材料和工艺过程控制的指标衡量依据，需要对上述不均匀、不平整性进行测定。常规的三维形貌测试方法，要么需要进行剖切断面扫描，要么无法实施于透明薄层，使得在测定过程复杂难以实现。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于，提供一种测定方法、装置及测定设备以改善上述问题。

本申请实施例提供一种测定方法，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，应用于测定设备，所述测定设备分别与所述显示模组和图像采集设备连接，所述显示模组包括光栅膜结构层和显示屏像素层，所述方法包括：

向所述显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；

接收所述图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像；

对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度。

可选地，所述向所述显示模组发送测试图像信息的步骤之前，所述方法还包括：

确定测试图像的交织方式，并根据所述交织方式设置光栅贴合参数；

根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。

可选地，所述对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度的步骤，包括：

对所述条纹图像进行形态学处理；

计算经过形态学处理之后的条纹图像中的各点的二维梯度向量；

根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度。