[发明专利]测定方法、装置及测定设备

权利要求书

1.一种测定方法，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，其特征在于，应用于测定设备，所述测定设备分别与所述显示模组和图像采集设备连接，所述显示模组包括光栅膜结构层和显示屏像素层，所述方法包括：

向所述显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；

接收所述图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像；

对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度；

所述对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度的步骤，包括：

对所述条纹图像进行形态学处理；

计算经过形态学处理之后的条纹图像中的各点的二维梯度向量；

根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度。

2.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，所述向所述显示模组发送测试图像信息的步骤之前，所述方法还包括：

确定测试图像的交织方式，并根据所述交织方式设置光栅贴合参数；

根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。

3.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，所述形态学处理包括开操作处理、闭操作处理、形态学平滑处理以及顶帽变换处理中的任意一种或几种。

4.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，所述根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度的步骤，包括：

计算所述条纹图像中的各点的二维梯度向量所构成的向量场的散度；

根据所述二维梯度向量获得所述条纹图像的曲率；

根据所述曲率及所述散度获得所述显示模组的光程不均匀度。

5.一种测定装置，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，其特征在于，应用于测定设备，所述测定设备分别与所述显示模组和图像采集设备连接，所述显示模组包括光栅膜结构层和显示屏像素层，所述装置包括：

测试图像信息发送模块，用于向所述显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；

接收模块，用于接收所述图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层

折射后呈现的条纹图像；

处理模块，用于对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度；

所述处理模块包括：

形态学处理单元，用于对所述条纹图像进行形态学处理；

计算单元，用于计算经过形态学处理之后的条纹图像中的各点的二维梯度向量；

光程不均匀度获得单元，用于根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度。

6.根据权利要求5所述的测定装置，其特征在于，所述测定装置还包括：

设置模块，用于确定测试图像的交织方式，并根据所述交织方式设置光栅贴合参数；

测试图像信息获得模块，用于根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。

7.根据权利要求5所述的测定装置，其特征在于，所述光程不均匀度获得单元包括：

计算子单元，用于计算所述条纹图像中的各点的二维梯度向量所构成的向量场的散度；

曲率获得子单元，用于根据所述二维梯度向量获得所述条纹图像的曲率；

光程不均匀度获得子单元，用于根据所述曲率及所述散度获得所述显示模组的光程不均匀。

8.一种测定设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-4任意一项所述的方法步骤。