[发明专利]检测系统的质量评估方法及装置、计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种检测系统的质量评估方法，其特征在于，包括步骤：

响应于对预设的检验项目对应的检测系统的质量评估指令，获取系统预设的最大允许误差和所述检测系统对样品的n个检验结果的标准差；其中，所述最大允许误差包括绝对值误差和百分比误差；所述n个检验结果为与当前时刻最近的n个检验结果，n≥2；

若当前所述检测系统对所述样品的检验结果小于预设的第一阈值时，根据所述绝对值误差和标准差，计算所述检测系统的质量指数；其中，所述第一阈值通过多个浓度的样本的检验结果进行标定后得到；

若当前检测系统对所述样品的检验结果大于或等于所述第一阈值且小于预设的第二阈值时，根据所述百分比误差和标准差，计算所述检测系统的质量指数。

2.如权利要求1所述的检测系统的质量评估方法，其特征在于，所述第一阈值通过以下方式获得：

响应于对所述第一阈值的计算指令，获取所述检测系统对不同浓度的标准样品的多个检测结果；

根据所述检测系统对不同浓度的标准样品的多个检测结果获得所述第一阈值。

3.如权利要求2所述的检测系统的质量评估方法，其特征在于，所述根据所述检测系统对不同浓度的标准样品的多个检测结果获得所述第一阈值具体为：

根据每一所述标准样品的多个检验结果计算均值，并根据每一所述样品的多个检验结果及所述均值计算标准差，根据所述均值和标准差计算变异系数；

根据每一所述标准样品对应的均值、标准差和变异系数获得所述第一阈值。

4.如权利要求3所述的检测系统的质量评估方法，其特征在于，所述根据每一所述样品对应的均值、标准差和变异系数获得所述第一阈值具体为：

根据每一所述标准样品的均值和标准差的对应关系进行拟合获得标准差-均值拟合曲线；

根据每一所述标准样品的均值和变异系数的对应关系进行拟合获得变异系数-均值拟合曲线；

获取所述标准差-均值拟合曲线和所述变异系数-均值拟合曲线的相交点，获取所述相交点所对应的均值，将所述相交点所对应的均值作为所述第一阈值。

5.权利要求1所述的检测系统的质量评估方法，其特征在于，所述质量指数为稳态能力指数，若当前所述检测系统对所述样品的检验结果小于预设的第一阈值时，根据以下公式计算所述检测系统的稳态能力指数：

Cp＝E1*2/(6*SD)

其中，Cp为所述检测系统的稳态能力指数，E1为所述绝对值误差，SD为所述标准差；

若当前检测系统对所述样品的检验结果大于或等于所述第一阈值且小于预设的第二阈值时，根据以下公式计算所述检测系统的稳态能力指数：

Cp＝AVG*E2*2/(6*SD)

其中，AVG为预设的框架均值；Cp为所述检测系统的稳态能力指数，E2为所述百分比误差，SD为所述标准差。