[发明专利]一种检测固体表面除尘效果的装置和方法

说明书

一种检测固体表面除尘效果的装置和方法，属于除尘效果检测领域。本发明的目的是为了解决目前尚没有合适的方法对杂质含量及大小进行检测的问题，所述的装置由平台、纸板或硅胶垫、基材隔膜、密封罩、绝缘线、压块、静电发生器组成；平台上粘贴有纸板或硅胶垫，纸板或硅胶垫上放置有极片，在极片表面放置基材隔膜，基材隔膜的中心处连接有绝缘线。所述方法为：将除尘后的极片放在纸板或硅胶垫上，然后将基材隔膜放在极片上，在基材隔膜上施加作用力，用绝缘线牵引基材隔膜运动，最终取出隔膜，观察粉尘的大小和数量。本发明的优点是：极片除尘后，可以直接检测出极片除尘的效果，然后重新调整参数进行除尘，减小电池电压衰减，提高电池生产良率。

技术领域

本发明属于除尘效果检测技术领域，具体涉及一种检测固体表面除尘效果的装置和方法。

背景技术

随着电子技术的发展，人们对于产品各项性能的要求也越来越高。电池是电子类产品的核心部件之一，人们对电池的性能有着极高地要求，尤其对于需要提供高电压的用电器来说，电池电压衰减的一致性，直接影响电池的寿命，电池的电压衰减速度主要取决于内部杂质的大小及含量，主要的杂质来源于极片的制造加工过程中，极片表面会附着极粉、金属屑等细小的杂质，需要在制造过程中及时除去杂质，但目前尚无检测极片除尘后附着杂质含量及大小的检测方法。

发明内容

本发明的目的是为了解决目前尚没有合适的方法对固体表面的杂质含量及大小进行检测的问题，提供一种检测固体表面除尘效果的装置和方法，该方法能够及时有效地检测某一工序极片除尘后极片表面的杂质含量及杂质的粒径大小，进而来调整除尘方案和参数，达到减小电池自放电现象的目的。所述的固体表面还可以是手机屏保、摄像机镜头等对洁净度要求较高的固体表面。

为实现上述目的，本发明采取的技术方案如下：

一种检测固体表面除尘效果的装置，所述的装置包括平台、纸板或硅胶垫以及隔膜或隔板、密封罩、绝缘线、压块及静电发生器；

所述密封罩罩设在平台上面，所述的平台上面固定有纸板或硅胶垫，纸板或硅胶垫上放置隔膜或隔板，隔膜或隔板连接有绝缘线，绝缘线通过密封罩上的孔引出密封罩，密封罩上设有密封罩门，所述的压块放置在隔膜或隔板上，所述的静电发生器作用于隔膜或隔板。

一种利用上述的装置检测固体表面除尘效果的方法，所述的方法具体为：

打开密封罩门，将除尘后的待检测固体放在纸板或硅胶垫上，然后将隔膜或隔板放在待检测固体上面，在隔膜或隔板上通过静电发生器施加＞1.0KV的静电或通过放置压块施加＞10N的作用力，将绝缘线通过孔引出密封罩，关闭密封罩门，用绝缘线牵引隔膜或隔板运动，最终取出隔膜或隔板，在显微镜下观察隔膜或隔板上粉尘的大小和数量。

本发明相对于现有技术的有益效果是：极片除尘后，可以直接检测出极片除尘的效果，将除尘效果由定性检测变为定量检测，用于更有效的说明和分析，可重新调整参数进行除尘，减小电池电压衰减的现象，提高电池生产良率，降低电池自放电能力，降低电池在充放电过程中对电池循环不利的副反应发生，提高电池循环寿命和容量保持率，同时在其他对洁净度要求较高的领域，可推行使用。

附图说明

图1为极片除尘效果检测装置图，其中，1-平台、2-纸板或硅胶垫、3-隔膜或隔板、4-固体表面、5-密封罩、6-绝缘线、7-孔、8-密封罩门；

图2为极片上施加压块测试图，其中9-压块；

图3为极片上施加静电测试图，其中10-静电发生器。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的技术方案作进一步的说明，但并不局限于此，凡是对本发明技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围，均应涵盖在本发明的保护范围中。