[发明专利]一种芯片测试装置及方法

说明书

本发明公开了一种芯片测试装置及方法，芯片测试板上安装有芯片测试底座，芯片通过芯片测试底座将引脚引出，微控制器通过芯片测试底座连接芯片各引脚；芯片测试板上还包括电源电路、OSC频率放大电路、分频器电路、AD转换电路、SD卡存储电路、TFT彩屏显示电路。针对不同封装的芯片，只需要制作新的芯片测试底座即可对芯片进行测试。本发明的芯片测试装置及方法，调试周期短，只需要一个月左右，针对不同封装的芯片，只需要制作新的测试夹具即可，针对年产量在500万以下的产品，测试成本低。

技术领域

本发明属于芯片测试领域，尤其涉及一种芯片测试装置及方法。

背景技术

半导体行业发展迅速，芯片测试是芯片应用前的必须经过的一个环节，芯片测试以追求可靠、低成本、高效率为目标。目前工厂里测试传感器的机器大多是国外生产的大型测试机台，这种机台在测试芯片之前，需要调试6～10个月才能实现准确测试芯片；调试周期长，当前消费类电子上面传感器更新速率快。每种芯片需要制作专属的导轴、振盘、吸嘴，这些特制的配件只能用于一种芯片，如果芯片更换了封装，那么需要重新制作这些配件，代价昂贵。调试测试成本高，对于年出货量少于500万片的产品来说成本高。

发明内容

发明目的：针对以上问题，本发明提出一种芯片测试装置及方法，调试周期短，只需要一个月左右，针对不同封装的芯片，只需要制作新的测试夹具即可，针对年产量在500万以下的产品，测试成本低。

技术方案：为实现本发明的目的，本发明所采用的技术方案是：一种芯片测试装置，其特征在于，包括芯片测试板、芯片测试底座、微控制器、开发板、上位机；芯片测试板上安装有芯片测试底座，芯片通过芯片测试底座将引脚引出，微控制器通过芯片测试底座连接芯片各引脚；芯片测试板分别连接开发板和上位机，开发板向芯片测试板输入信号，上位机通过串行接口与芯片测试板通信。

进一步地，芯片测试板上还包括电源电路、OSC频率放大电路、分频器电路、AD转换电路、SD卡存储电路、TFT彩屏显示电路；芯片通过芯片测试底座连接到OSC频率放大电路，再连接到分频器电路，分频器电路连接到微控制器；芯片通过芯片测试底座连接到AD转换电路，再连接到微控制器；微控制器同时连接SD卡存储电路和TFT彩屏显示电路；电源电路给各个电路供电。

进一步地，芯片通过芯片测试底座连接到OSC频率放大电路，芯片内部OSC频率输出经放大后再连接到分频器电路，将OSC频率分频到十几KHz，同时将三角波转变成方波，再连接微控制器对芯片内部OSC频率进行采集。

进一步地，芯片通过芯片测试底座连接到AD转换电路，芯片内部的LED驱动电流和待机电流流过电路中的电阻，转变成电压，AD转换电路采集电压，从而测量出芯片内部的LED驱动电流和待机电流的电流大小。

一种芯片测试方法，包括步骤：

(1)将芯片放入底座中，对芯片进行管脚通断测试；

(2)设定芯片内部频率的校准值，并根据测量值去修改芯片内部寄存器的值；

(3)设定芯片内部驱动电流的校准值，并根据测量值去修改芯片内部寄存器的值；

(4)判断芯片测试模块在预设的时钟频率、驱动电流下是否正常工作：若所述芯片的频率校准值符合设定值，则继续对该芯片进行驱动电流校准，若驱动电流校准值符合设定值，则对芯片进行功能测试；若所述芯片测试频率与驱动电流不符合设定值，结束测试。

进一步地，所述芯片的频率值、驱动电流值由芯片内部寄存器控制；所述芯片校准后的时钟频率符合预先设定的值，所述芯片校准后的驱动电流符合设置的校准范围值。

进一步地，所述测试模块为连接于芯片的256分频电路或电流检测电路。