[发明专利]激光光源调制方法及装置在审

专利信息
申请号: 201811199714.4 申请日: 2018-10-15
公开(公告)号: CN109004506A 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: 武斌;纪荣祎;周维虎;孙正欣;纪菲;邓宝君;高阳;王泉;朱恒;张滋黎;董登峰 申请(专利权)人: 青岛市光电工程技术研究院(中国科学院光电研究院青岛光电工程技术研究中心)
主分类号: H01S3/10 分类号: H01S3/10;G01S17/08
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 吴莎
地址: 266000 山东省青岛*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 激光器 线性放大 泵浦激光源 调制信号源 激光信号 激光光源调制 高频调制 放大腔 激光技术领域 测距 小功率激光 泵浦激光 电流信号 调制频率 功率调制 激光测距 输出 电连接 高精准 泵浦 出射 正弦 调制 放大 制约 应用
【说明书】:

发明公开一种激光光源调制方法及装置,涉及激光技术领域,包括:调制信号源、激光器、泵浦激光源以及线性放大腔;调制信号源电连接激光器,调制信号源向激光器输出正弦高频调制电流信号;线性放大腔设置于激光器的出光光路上,激光器出射的高频调制激光信号入射线性放大腔;泵浦激光源设置于线性放大腔的入光方向,泵浦激光源产生的泵浦激光信号入射线性放大腔;线性放大腔输出经泵浦放大的激光信号。通过对小功率激光信号进行功率调制,克服调制频率与调制深度的制约,可以产生高频、大功率的激光信号,并应用于激光测距,能够达到更高精准测距的要求。

技术领域

本发明涉及激光技术领域,具体而言,涉及一种激光光源调制方法及装置。

背景技术

高精度绝对测距是先进制造领域中的一项重要技术,是大型装备组装中不可或缺的测量手段。

目前,国内现有的高精度绝对测距仪的测量精度为毫米级,原理是采用相位测距方法,通过对激光光源进行正弦调制,通过计算测量光与参考光的相位差,从而得到测量目标的绝对距离。高精度绝对测距仪一般均采用半导体激光器作为测量光源,由于激光器内部结电容和其他结构参数的限制,其输出激光的调制频率与调制深度相互制约,不能实现大调制深度高频调制的激光输出,因此限制了更高测距精度的实现。

发明内容

本发明的目的在于提供一种激光光源调制方法及装置,通过该装置输出高频大功率激光信号,可以解决在相位测距方法中高频调制频率和大调制深度相互制约导致测距精度不准确的问题,提高相位测距的精度。

本发明的实施例是这样实现的:

本发明的一方面,提供一种激光光源调制装置,包括:调制信号源、激光器、泵浦激光源以及线性放大腔;调制信号源电连接激光器,调制信号源向激光器输出正弦高频调制电流信号;线性放大腔设置于激光器的出光光路上,激光器出射的高频调制激光信号入射线性放大腔;泵浦激光源设置于线性放大腔的入光方向,泵浦激光源产生的泵浦激光信号入射线性放大腔;线性放大腔输出经泵浦放大的激光信号。

进一步的,还包括设置于激光器出光方向上,且在泵浦激光光源出光方向上的分光棱镜,分光棱镜位于线性放大腔的入光方向;激光器出射的高频调制激光信号透过分光棱镜入射线性放大腔;泵浦激光光源产生的泵浦激光信号经分光棱镜反射进入线性放大腔。

可选的,还包括线性放大温控模块;线性放大腔内置于线性放大温控模块中。

可选的,还包括第一光束准直镜;第一光束准直镜设置于高频调制激光信号的光路上,接收激光器产生的高频调制激光信号,用于对高频调制激光信号进行准直。

可选的,还包括第二光束准直镜;第二光束准直镜设置于线性放大腔的出光方向上,对线性放大腔输出的放大的激光信号进行准直出射。

本发明的另一方面,提供一种激光光源调制方法,包括:

激光器在正弦高频调制电流信号的驱动下出射高频调制激光信号;

泵浦激光源产生泵浦激光信号;

高频调制激光信号和泵浦激光信号分别入射线性放大腔,在线性放大腔中进行功率放大后出射经泵浦放大的激光信号。

进一步的,高频调制激光信号和泵浦激光信号分别入射线性放大腔包括:

高频调制激光信号透过分光棱镜入射线性放大腔,泵浦激光信号经分光棱镜反射进入线性放大腔。

可选的,在线性放大腔中进行功率放大之前,该方法包括:

通过线性放大温控模块调节线性放大腔的温度。

可选的,高频调制激光信号入射线性放大腔之前,该方法包括:

高频调制激光信号经第一光束准直镜准直后入射线性放大腔。

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