[发明专利]一种纳米位移电容传感器测试夹持机构在审
| 申请号： | 201811170373.8 | 申请日： | 2018-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN109405726A | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 贾静;王慧锋;须颖 | 申请（专利权）人： | 三英精控（天津）仪器设备有限公司;广东工业大学 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02 |
| 代理公司： | 天津协众信创知识产权代理事务所(普通合伙) 12230 | 代理人： | 王力强 |
| 地址： | 301700 天津市武清区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 压板 电容传感器 纳米位移 测试夹持机构 导向柱 紧固螺钉 锁紧螺钉 螺钉垫 测试 底座 通孔 纳米位移传感器 导向柱安装 导向作用 底座支撑 夹持固定 螺纹垫块 受力均匀 压板连接 支撑空间 测试板 平行度 压力锁 滑动 偏斜 下端 穿过 灵活 移动 保证 | ||
1.一种纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：包括用于支撑纳米位移电容传感器(6)的底座(7)、压板(3)和导向柱(2)，所述导向柱(2)安装在所述底座(7)上，所述压板(3)上开设有通孔，所述导向柱(3)穿过通孔与所述压板(3)连接，以使该压板(3)沿导向柱(3)滑动，所述压板(3)的两端安装有紧固螺钉(1)，所述压板(3)的中间安装有锁紧螺钉(4)，所述锁紧螺钉(4)的下端安装有螺钉垫块(5)，用于与纳米位移电容传感器(6)接触，所述螺钉垫块(5)与底座(7)之间构成支撑空间，用于放置所述纳米位移电容传感器(6)。
2.根据权利要求1所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述底座(7)的上端开设有支撑槽(8)，用于支撑所述纳米位移电容传感器(6)。
3.根据权利要求2所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述支撑槽(8)为V形槽。
4.根据权利要求3所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述压板(3)的两端开设有紧固螺纹孔，所述紧固螺钉(1)通过紧固螺纹孔与所述压板(3)连接，用于锁紧压板(3)在导向柱(2)上的位置。
5.根据权利要求4所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述通孔与所述紧固螺纹孔连通。
6.根据权利要求5所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述压板(3)的中间开设有锁紧螺纹孔，所述锁紧螺钉(4)与锁紧螺纹孔螺纹连接。
7.根据权利要求1-6中任意一项所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述导向柱(2)的数量为N，N≥2。
8.根据权利要求7所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：N个所述导向柱(2)相互平行。
9.根据权利要求8所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述螺纹垫块(5)采用聚四氟乙烯制成。
10.根据权利要求9所述的纳米位移电容传感器测试夹持机构，其特征在于：所述底座(7)采用黄铜制成。
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