[发明专利]一种高效通用芯片测试系统

说明书

本发明属于集成电路技术领域，具体为一种通用芯片测试系统。本发系统中，待测元器件由分为2部分：主要文件和次要文件；此外，还包软件运行部分，主要包括测试图形生成程序模块、测试结果分析程序模块；各个测试文件的语法构成，除了通用文件格式如UCF、VCD、RBT，其他测试文件均以XML格式编写，方便程序进行检索和信息提取。用户在准备好必要的测试文件后，视测试激励的长短，可以在一至两分钟内生成测试图形的二进制文件并下板验证，进一步提升了测试效率。本发明中设计的测试图形生成和结果转换程序可以根据测试模型的变化与需求对程序进行调整，保持接口不变，不需要对软件的其他部分进行改动，使用方便。

技术领域

本发明属于集成电路技术领域，具体为一种用于芯片测试的测试系统。

背景技术

高效芯片测试是集成电路技术领域重要前题。一种常见的测试系统的硬件结构模型如图1所示。待测元器件安装在装载板上，通过线缆连接到位于卡箱内并插在槽位上的板卡，板卡上的存储卡存放着测试图形，测试系统依据测试图形对待测元器件进行测试，并将数据结果保存在存储卡上。

为了将硬件系统的连接关系以及用户的测试需求映射到测试图形中，需要约定一种描述规范，包括：端口配置、直流配置、激励波形、位流配置，等等。这其中又分为两部分：单次测试所必须修改的部分，即用户最为关心的每次测试时变化最为敏感的部分；所有测试通用的部分，即多次测试所共享的、在测试过程种起辅助作用的部分。

本发明提出了一种用于芯片测试的测试模型（系统）。首先，本发明对测试模型的整体结构进行定义，包括与硬件结构的对应，以及主要测试文件和次要测试文件的结构和组织关系。然后，对各个测试文件，详细描述其功能、格式和编写方法。最后，设计了自动化测试图形编译及结果转换程序，为准备测试图形和解析测试结果提供了有力的工具。

发明内容

本发明的目的在于设计一种高效、简洁的通用芯片测试系统。

本发明设计的高效、简洁的通用芯片测试系统，其结构如图2所示。从测试角度看，待测元器件由 2 部分组成：主要文件部分和次要文件部分。主要部分是指在测试过程中最为关注的部分，也是每次测试时变化最敏感的部分。次要部分是指在测试过程中起辅助作用的部分，通常是指不同测试之间的共享数据信号。此外，还包软件运行部分，软件运行部分包括测试图形生成程序模块、测试结果分析程序模块。其中：

（1）主要文件

与主要测试部分相关的文件种类包括但不限于：测试流文件（Test Flow File，TFO）、测试项目文件（Item，ITM）、端口方向文件（Port Input Output，PIO）、激励波形文件（Value Change Dump，VCD）以及用户约束文件（User Constraint File，UCF）。

一般来说，完整的测试需求需要回答以下几个问题：测试哪些项目，某个引脚是产生激励还是采集响应，数字信号如何随时间变化，以及信号应该出现在哪里；这些测试需求构成了用户需要考虑的主体部分。在本设计中，4种不同类型的文件共同定义了完整的测试需求：测试项目文件定义了要求的测试项目，包括：电源电压、电源电流、直流参数、激励与响应等。端口方向文件定义了待测元器件所有主要信号引脚的名称、输入输出方向等。激励波形文件通常由仿真软件直接导出，其中定义了所有主要信号引脚上的数字波形，不仅含有输入引脚上的激励，还有输出引脚上的预期响应。用户约束文件定义了信号名称与器件引脚之间的对应关系和测试信号的电平标准等参数。

另外，测试流文件是所有主要文件的索引，并通过多个标签提供了批量测试的功能，是主要文件的核心。

（2）次要文件