[发明专利]位线的筛选方法、装置、存储设备和存储介质

权利要求书

1.一种位线的筛选方法，其特征在于，包括：

分别对相互独立的每一个待检测区域中的所有位线以间隔施加相同电压的方式分别施加设定时间的第一检测电压和第二检测电压，同时分别对所述每一个待检测区域中的所有字线施加所述设定时间的截止电压，其中，所述第一检测电压与所述第二检测电压之间的电压差大于设定电压差值；

分别对所述每一个待检测区域进行检验编程操作，以使所述每一个待检测区域中任意相邻的两个存储单元所存储的数据均不相同；

校验所述每一个待检测区域中的所有存储单元的存储数据是否与所述检验编程操作匹配；

将所述存储数据与所述检验编程操作不匹配的存储单元所对应的位线确定为失效位线；所述待检测区域为NOR FLASH中的一个BANK区域；

所述截止电压是使待检测区域中的所有存储单元截止的电压。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将所述存储数据与所述检验编程操作不匹配的存储单元所对应的位线确定为失效位线之后，还包括：

分别判断所述每一个待检测区域中所包括的所述失效位线的数量是否大于设定阈值；

若所述待检测区域中所包括的所述失效位线的数量大于设定阈值，则弃用该待检测区域；

若所述待检测区域中所包括的所述失效位线的数量小于设定阈值，则确定所述待检测区域为可用区域。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

如果所述可用区域中所包括的所述失效位线的数量不为0，则使用该可用区域中的备用位线替代所述失效位线。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括：

使用属性为备用的一个所述可用区域替代一个被弃用的所述待检测区域。

5.一种位线的筛选装置，其特征在于，包括：

电压施加模块，用于分别对相互独立的每一个待检测区域中的所有位线以间隔施加相同电压的方式分别施加设定时间的第一检测电压和第二检测电压，同时分别对所述每一个待检测区域中的所有字线施加所述设定时间的截止电压，其中，所述第一检测电压与所述第二检测电压之间的电压差大于设定电压差值；

编程模块，用于分别对所述每一个待检测区域进行检验编程操作，以使所述每一个待检测区域中任意相邻的两个存储单元所存储的数据均不相同；

检验模块，用于校验所述每一个待检测区域中的所有存储单元的存储数据是否与所述检验编程操作匹配；

失效位线确定模块，用于将所述存储数据与所述检验编程操作不匹配的存储单元所对应的位线确定为失效位线；

所述待检测区域为NOR FLASH中的一个BANK区域；

所述截止电压是使待检测区域中的所有存储单元截止的电压。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括：

数量判断模块，用于在所述将所述存储数据与所述检验编程操作不匹配的存储单元所对应的位线确定为失效位线之后，分别判断所述每一个待检测区域中所包括的所述失效位线的数量是否大于设定阈值；

弃用模块，用于若所述待检测区域中所包括的所述失效位线的数量大于设定阈值，则弃用该待检测区域；

可用区域确认模块，用于若所述待检测区域中所包括的所述失效位线的数量小于设定阈值，则确定所述待检测区域为可用区域。

7.一种存储设备，其特征在于，所述存储设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-4中任一项所述的方法。

8.一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如权利要求1-4中任一项所述的方法。