[发明专利]标准单元测试电路版图及其优化方法、标准单元测试结构有效

专利信息
申请号: 201811055812.0 申请日: 2018-09-11
公开(公告)号: CN110888038B 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 王夺;陈志强;唐伟峰;张凤娟;陈乃霞 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: G06F30/30 分类号: G06F30/30
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 薛异荣;吴敏
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 标准 单元测试 电路 版图 及其 优化 方法 结构
【权利要求书】:

1.一种标准单元测试电路版图,其特征在于,包括:

第一待测单元电路;

所述第一待测单元电路包括:若干级第一标准单元,所述若干级第一标准单元为Y1行*X1列的阵列,Y1为大于等于4的偶数,X1为大于等于4的整数;

第一行的第一标准单元中,相邻的第一标准单元连接;第Y1行的第一标准单元中,相邻的第一标准单元连接;

第i1行第一列至第i1行第j1列的第一标准单元中,相邻的第一标准单元连接;第i1行第j1+1列至第i1行第X1列的第一标准单元中,相邻的第一标准单元连接;第i1行第j1列的第一标准单元与第i1行第j1+1列的第一标准单元断开;第i1+1行第一列至第i1+1行第j1列的第一标准单元中,相邻的第一标准单元连接;第i1+1行第j1+1列至第i1+1行第X1列的第一标准单元中,相邻的第一标准单元连接;第i1+1行第j1列的第一标准单元与第i1+1行第j1+1列的第一标准单元断开;

第i1行第X1列的第一标准单元与第i1-1行第X1列的第一标准单元连接,第Y1行第一列的第一标准单元与第Y1-1行第一列的第一标准单元连接,第Y1行第X1列的第一标准单元与第Y1-1行第X1列的第一标准单元连接,第i1行第j1列的第一标准单元与第i1+1行第j1列的第一标准单元连接,第i1行第j1+1列的第一标准单元与第i1+1行第j1+1列的第一标准单元连接;第二行第一列的第一标准单元与第一行第一列的第一标准单元断开;

i1为大于等于2且小于等于Y1-2的偶数,j1为大于等于2且小于等于X1-2的整数;

当i1为大于等于4且小于等于Y1-2的偶数时,第i1行第一列的第一标准单元与第i1-1行第一列的第一标准单元连接;

X1*Y1=N1,N1为合数;第m1级第一标准单元的输出端与第m1+1级第一标准单元的输入端连接,m1为大于等于1且小于等于N1-1的整数;第一行第一列的第一标准单元为第一级第一标准单元,第二行第一列的第一标准单元为第N1级第一标准单元;

所述第一待测单元电路还包括:第一起震单元,所述第一起震单元具有第一起震连接输入端、第一起震信号输入端和第一起震输出端;第一起震信号输入端适于输入第一起震驱动信号;

所述第一级第一标准单元用于与第一起震单元的第一起震输出端连接,所述第N1级第一标准单元用于与第一起震单元的第一起震连接输入端连接。

2.根据权利要求1所述的标准单元测试电路版图,其特征在于,当X1为偶数时,j1等于X1的1/2。

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