[发明专利]微型LED器件和阵列的维修技术在审

专利信息
申请号: 201811051200.4 申请日: 2018-09-10
公开(公告)号: CN109494235A 公开(公告)日: 2019-03-19
发明(设计)人: 格拉姆雷扎·查济 申请(专利权)人: 维耶尔公司
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 张晓媛
地址: 加拿大*** 国省代码: 加拿大;CA
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摘要:
搜索关键词: 发光显示系统 修复 缺陷像素 维修技术 微型LED
【说明书】:

公开了用于修复发光显示系统的结构和方法。提供了根据该结构和方法的各种修复技术的实施方式,以克服和减轻缺陷像素并提高产量并降低发光显示系统的成本。

相关申请的交叉引用

本申请要求2017年9月11日提交的美国临时申请No.62/556608的权益,该临时申请通过引用整体并入本文。

技术领域

本公开大体涉及微型LED显示器,并且更具体地,涉及提供用于微型LED显示器的修复技术。

背景技术

微型LED显示器可能遭受若干缺陷源,包括:器件(微型LED)开路/短路问题、器件传输/集成/焊接缺陷、以及衬底驱动器像素缺陷。包括转移到系统衬底的有缺陷微型器件的微型LED显示器的修复对于提高产量是非常关键的。虽然使用备用微型器件可以提高产量,但也会增加成本。以下实施方式涉及使修复技术能够增加产量并降低发光显示器的成本。

发明内容

包括转移到系统衬底的微型器件的微型LED显示器的测试和修复对于提高产量来说是非常关键的。虽然使用备用微型器件可以提高产量,但也会增加成本。以下实施方式旨在实现简单和/或实用的修复过程以增加产量并降低成本。

根据一个实施方式,可以提供系统衬底上的显示系统。显示系统可以包括:像素阵列,其中每个像素都包括以矩阵排列的一组子像素,该组子像素包括至少一个缺陷子像素;以及缺陷映射块,用于将来自至少一个缺陷子像素的数据映射到至少一个周围备用子像素。

根据另一实施方式,一种修复包括多个像素的像素电路的方法可以包括:为每个像素提供一组多于两个的子像素和备用子像素,检测该组子像素中的至少一个缺陷子像素,并用颜色转换材料或滤色器转换备用子像素以产生与缺陷子像素相同的颜色。

在另一实施方式中,可提供一种修复像素电路的方法。该方法可以包括:提供包括至少一个具有高波长发射的原始子像素的像素,将颜色转换材料应用于该原始子像素中的至少一个以将高波长发射转换为与该高波长发射不同的波长发射,识别原始子像素中有缺陷的原始子像素,以及通过使用颜色转换材料将备用子像素映射到与有缺陷的原始子像素相同的原色。

根据又一实施方式,可以提供一种修复像素电路的方法。该方法可以包括:提供包括至少一个具有组合波长发射的原始子像素的像素,将滤色器材料应用于该原始子像素中的至少一个以将组合波长发射转换为不同的波长发射,识别原始子像素中有缺陷的原始子像素,以及通过使用滤色器材料将备用子像素映射到与有缺陷的原始子像素相同的原色。

根据一些实施方式,可以提供一种修复像素电路的方法。该方法可以包括:提供包括至少一个高波长原始子像素的像素,提供至少一个具有相同波长的备用子像素,识别原始子像素和备用子像素中的缺陷子像素,以及将颜色转换层映射到没缺陷的子像素,使得对于每个预期的原始子像素来说都至少存在一个子像素。

根据另一实施方式,可以提供一种修复像素电路的方法。该方法可以包括:提供包括至少一个组合颜色子像素的像素,提供具有相同组合颜色的至少一个备用子像素,识别原始子像素和备用子像素中的缺陷子像素,以及将滤色器层映射到没缺陷的子像素,使得对于每个预期的原始子像素来说都存在至少一个子像素。

根据又一实施方式,一种在显示系统中用备用子像素替换缺陷子像素的方法可包括:向显示器中的子像素的位置提供周期性空间变化,计算备用子像素与缺陷子像素之间的最大距离和最小距离,提取子像素的坐标的变化,并根据所计算的变化用备用子像素替换缺陷子像素。

根据又一实施方式,一种校正光电器件阵列的空间非均匀性的方法,其中基于该阵列中的空间不均匀性阻挡由光电器件产生或吸收的信号的一部分。

前述发明内容仅是说明性的,并不旨在以任何方式进行限制。除了以上描述的说明性方面、实施方式和特征之外,通过参考附图和以下详细描述,其他方面、实施方式和特征将变得显而易见。

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