[发明专利]一种共晶LED的制造方法在审

专利信息
申请号: 201811018686.1 申请日: 2018-09-03
公开(公告)号: CN109461806A 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 罗建华 申请(专利权)人: 东洋工业照明(广东)有限公司
主分类号: H01L33/48 分类号: H01L33/48;H01L33/62
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 胡枫
地址: 528437 广东省中山市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 共晶 焊料 真空焊接 空洞率 减小 制造 二次焊接 腔体结构 一次焊接 助焊剂 焊盘 排空 涂覆 浸润
【说明书】:

发明涉及一种共晶LED的制造方法,包括以下步骤:S1涂覆共晶焊料;S2一次焊接;S3点助焊剂;S4安装LED;S5二次焊接。本发明提供的共晶LED的制造方法,通过在安装LED芯片之前对共晶焊料进行真空焊接,使得共晶焊料分布于呈腔体结构的共晶焊料位的每个角落,排空共晶焊料位内部的所有空气,减小空洞率,通过在安装LED芯片之后对共晶焊料进行真空焊接,使得共晶焊料浸润LED芯片与焊盘之间的间隙,进一步减小空洞率,提供LED的可靠性。

技术领域

本发明涉及一种LED封装技术领域,尤其涉及一种共晶LED芯片的制造方法。

背景技术

现有LED的共晶安装过程一般均包括在基板上涂覆共晶焊料、固晶以及焊接等步骤,其中,固晶前,共晶焊料呈球状涂敷于基板上,固晶时,LED芯片会压迫共晶焊料,导致共晶焊料溢出,仅留下焊盘腔体内部的共晶焊料实现导电,然而,由于共晶焊料为共晶粉末加助焊剂混合形成膏体材料,共晶焊料在达到共晶点温度时,共晶焊料熔化浸润晶片与支架焊盘,熔化的共晶焊料颗粒在表面张力的作用下凝聚在一起,排出共晶焊料内部的空气和助焊剂,焊盘腔体内的共晶焊料体积缩小,无法填满整个腔体而造成空洞。

由于LED芯片的电及位置再晶片底部,晶片四周为蓝宝石材料,只有阻焊特性,溢出的共晶焊料熔化后,由于无法浸润蓝宝石而变成锡珠留在LED芯片的四周。

如此一来,LED芯片与焊盘之间,通过具有空洞的共晶焊料实现电连接,连接的稳定性差,导电的电阻大,不能满足市场需求,因此有必要提出一种新型的制造方法,解决以上问题。

本发明提出一种共晶LED的制造方法,在共晶前对共晶焊料进行真空固化,填充空洞率,提高共晶LED的可靠性。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种共晶LED的制造方法,在共晶前对共晶焊料进行真空固化,填充空洞率,提高共晶LED的可靠性。

为了解决上述技术问题,本发明提出一种共晶LED的制造方法,包括以下步骤:

S1涂覆共晶焊料:将共晶焊料涂覆于基板上,得到待焊基板;

S2一次焊接:将步骤S1得到的待焊基板在真空环境中进行一次焊接,得到固化后的待焊基板;

S3点助焊剂:将助焊剂涂覆于共晶焊料的上,得到待安装LED的基板;

S4安装LED:将LED芯片安装于待安装LED的基板上,得到待成形LED;

S5二次焊接:将待成形LED在真空环境下进行二次焊接,使得助焊剂从LED芯片与共晶焊料之间排出,得到成型的LED。

优选地,在S2步骤中,一次焊接的真空压力为4-6pa,温度为220-240℃,时间为9-11s。

优选地,在S2步骤中,一次焊接的真空压力为5pa,温度为230℃,时间为10s。

优选地,包括:在S5步骤中,二次焊接的真空压力为4-6pa,温度为220-240℃,时间为9-11s。

优选地,在S5步骤中,二次焊接的真空压力为5pa,温度为230℃,时间为10s。

优选地,在S1步骤中,所述待焊基板上设有至少一个LED芯片安装位,一个LED芯片安装位包括两个共晶焊料位,分别为第一共晶焊料位和第二共晶焊料位;

共晶焊料位于所述共晶焊料位内部。

优选地,S4步骤中,LED芯片上设有正电极和负电极,所述正电极与位于所述第一共晶焊料位处的共晶焊料相接触,所述负电极与位于所述第二共晶焊料位处的共晶焊料相接触。

优选地,在S1步骤中,采用钢网模板印刷工艺方式,将共晶焊料涂覆于基板上。

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