[发明专利]一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法及装置

说明书

本发明实施例公开了一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法及装置，涉及服务器测试技术领域。测试方法包括采用微处理器控制M.3硬盘上下电模拟硬盘热插拔过程；记录硬盘上下电次数和上下电过程中硬盘的状态，生成测试过程日志；通过显示器实时显示硬盘的上下电测试次数、测试进度、故障次数以及硬盘状态。本发明的服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法及装置，采用微处理器模拟硬盘热插拔的方式代替传统的人为热插拔测试，极大降低了人工测试过程中的出错率。该测试方法将传统的重复性机械工作予以自动化和智能化，测试效率成倍提升，降低了测试的人工成本，缩短了服务器的开发和维护周期。

技术领域

本发明实施例涉及服务器测试技术领域，具体涉及一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法及装置。

背景技术

M.2作为新一代的接口标准，不论从规格尺寸，还是从传输性能上，都要优于mSATA接口。M.2接口能够同时支持PCI-E通道及SATA，最初接口采用的是PCI-E 2.0x2通道，理论带宽10Gbps，突破了SATA接口理论的传输瓶颈。现在的M.2接口已全面转向PCI-E 3.0x4通道，理论带宽达到了32Gbps，SSD的性能也得到了大幅提升。M.2接口固态硬盘还支持NVMe标准，通过NVMe标准接入的SSD在性能提升方面非常明显。虽然M.2接口的各方面性能显著，但其还存在不足之处，就是不适用于薄型1U服务器，无法支撑热插拔及较大容量，而对于服务器新型业务而言，大容量高速热插拔存储器极为重要，可以极大提升服务器响应，大规模部署在数据中心增强云服务业务。

M.3接口拥有和M.2相同的长宽尺寸，可实现单面放置两排的NAND颗粒，配合新一代V-NAND技术拥有更小的体积，同时可实现SSD容量的极大提升。一个标准1U系统中可配置36个热插拔M.3硬盘，实现高达288TB的存储容量，为高级计算提供更快的CPU数据存储性能。相比先前支持标准固态硬盘的全闪存存储服务器，存储密度提高了三倍。

对于新型M.3硬盘的稳定性测试，如果采用传统的人为热插拔测试，整个测试过程机械低效，且上千次的测试结果记录极为容易出错。基于此，本发明提出一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法及装置，提升新型M.3硬盘的测试效率和测试准确率。

发明内容

本发明实施例提供了一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法及装置，实现自动化测试硬盘热插拔稳定性并生成测试日志予以显示，降低测试成本，提高测试效率。

为了解决上述技术问题，本发明实施例公开了如下技术方案：

本发明第一方面提供了一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法，所述方法包括以下步骤：

采用微处理器控制M.3硬盘上下电来模拟硬盘热插拔过程；

记录硬盘上下电次数和上下电过程中硬盘的状态，并生成测试过程日志；

通过显示器实时显示硬盘的上下电测试次数、测试进度、故障次数以及硬盘状态。

基于上述方案，本方法做如下优化：

所述M.3硬盘通过MOS管驱动供电，MOS管的控制开关与微处理器的输出端口连接。

进一步的，所述微处理器控制M.3硬盘上下电模拟硬盘热插拔的过程中，通过持续输出一定频率的方波控制MOS管导通或者关闭实现硬盘的上电或者下电，以此模拟硬盘的上下电热插拔。

具体的，所述微处理器持续输出的方波频率为1HZ，方波的产生程序如下：

TMOD＝0x01；TH0＝(65536-50000)/256；TL0＝(65536-50000)％256；微处理器设置50ms定时中断

{count++；if(count＝＝10){A8-A11＝～A8-A11；count＝0；}；计10次数后电平反转输出。