[发明专利]一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法及装置

权利要求书

1.一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

采用微处理器控制M.3硬盘上下电模拟硬盘热插拔过程；

记录硬盘上下电次数和上下电过程中硬盘的状态，并生成测试过程日志；

通过显示器实时显示硬盘的上下电测试次数、测试进度、故障次数以及硬盘状态。

2.根据权利要求1所述的一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法，其特征在于，所述M.3硬盘通过MOS管驱动供电，MOS管的控制开关与微处理器的输出端口连接。

3.根据权利要求2所述的一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法，其特征在于，所述微处理器通过持续输出一定频率的方波控制MOS管导通或者关闭实现硬盘的上电或者下电，以此模拟硬盘的上下电热插拔。

4.根据权利要求3所述的一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法，其特征在于，所述微处理器持续输出的方波频率为1HZ，方波的产生程序如下：

TMOD＝0x01；TH0＝(65536-50000)/256；TL0＝(65536-50000)％256；微处理器设置50ms定时中断

{count++；if(count＝＝10){A8-A11＝～A8-A11；count＝0；}；计10次数后电平反转输出。

5.根据权利要求1所述的一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试方法，其特征在于，所述微处理器通过电平的转换次数记录硬盘的上下电次数，并通过端口持续接收的硬盘驱动器活动指示灯和状态指示灯的状态信号记录上下电过程中硬盘的状态。

6.一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试装置，其特征在于，包括硬盘热插拔模拟单元、微处理器控制单元和测试结果显示单元，且硬盘热插拔模拟单元、微处理器控制单元和测试结果显示单元相互之间电连接：

所述硬盘热插拔模拟单元，用于采用微处理器控制M.3硬盘上下电模拟硬盘热插拔过程；

所述微处理器控制单元，用于记录硬盘上下电次数和上下电过程中硬盘的状态，并生成测试过程日志；

所述测试结果显示单元，用于通过显示器实时显示硬盘的上下电测试次数、测试进度、故障次数以及硬盘状态。

7.根据权利要求6所述的一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试装置，其特征在于，所述硬盘热插拔模拟单元中，M.3硬盘通过MOS管驱动供电，MOS管的控制开关与所述微处理器的输出端口连接。

8.根据权利要求7所述的一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试装置，其特征在于，所述微处理器通过持续输出1HZ频率的方波控制MOS管导通或者关闭实现硬盘的上电或者下电，以此模拟硬盘的上下电热插拔。

9.根据权利要求6所述的一种服务器M.3硬盘热插拔稳定性测试装置，其特征在于，所述微处理器控制单元中，微处理器通过电平的转换次数记录硬盘上下电次数，并通过端口持续接收的硬盘驱动器活动指示灯和状态指示灯的状态信号记录上下电过程中硬盘的状态。