[发明专利]全芯片静电释放网络在审

专利信息
申请号: 201810919913.1 申请日: 2018-08-14
公开(公告)号: CN109148439A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 吕斌 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 电源钳位电路 触发信号 控制电路 前驱电路 后驱电路 静电释放 侦测电路 跨接 侦测 电源 芯片 控制信号提供 静电放电 连接电源 输出端 并联 网络
【说明书】:

发明公开了一种全芯片静电释放网络,包含有电源钳位电路,以及多个IO单元;所述的电源钳位电路,跨接于电源与地之间,所述的电源钳位电路还包含ESD侦测电路,用于侦测ESD信号,并在侦测到ESD信号后会产生一个触发信号;所述的多个IO单元,是多个并联并与电源钳位电路同样跨接于电源和地之间,所述的IO单元,每个单元均具有IO口,所述的IO口是会受到静电放电的影响的IO口;所述的IO单元,均包含有前驱电路、控制电路以及后驱电路,所述控制电路及后驱电路连接电源和地;所有IO单元的前驱电路均连接到ESD侦测电路的ESD触发信号端以接收ESD触发信号,然后前驱电路的输出端产生相应的控制信号提供给控制电路。

技术领域

本发明涉及半导体器件设计与制造领域,特别是指一种全芯片静电释放网络。

背景技术

静电是一种客观的自然现象,产生的方式多种,如接触、摩擦、电器间感应等。静电的特点是长时间积聚、高电压、低电量、小电流和作用时间短的特点。静电在多个领域造成严重危害。摩擦起电和人体静电是电子工业中的两大危害,常常造成电子电器产品运行不稳定,甚至损坏。

随着半导体集成电路的制造工艺的特征尺寸越来越小,芯片单元的尺寸也越来越小,芯片的抗静电能力越来越变得重要。静电往往会导致半导体组件以及计算机系统等形成一种永久性毁坏,因而影响集成电路的电路功能,而使电子产品工作不正常,所以必须增加保护电路来保护芯片不受静电放电现象的破坏。

通常情况下全芯片的静电释放(ESD)网络是由若干个IO单元(IO(1)~IO(n))和电源钳位单元(Power Clamp)组成,IO单元又包含有前驱电路Pre-driver以及后驱电路CMOS。在全芯片当中某一个IO单元对地进行正向静电泄放的时候,静电电流会通过IO单元里面的驱动PMOS的寄生的正向二极管泄放到电源线上,再通过电源钳位单元里面大的ESD NMOS将静电电荷泄放到地上,如图1中虚线显示的电流路径。此时其他的IO单元的驱动管处在一种不确定的状态,不能帮助泄放静电电荷,影响了整个器件的抗静电能力。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种全芯片静电释放网络,提高整个芯片的ESD能力。

为解决上述问题,本发明所述的全芯片静电释放网络,包含有电源钳位电路,以及多个IO单元;

所述的电源钳位电路,跨接与电源与地之间,所述的电源钳位电路还包含有ESD侦测电路,用于侦测ESD信号,并在侦测到ESD信号后会产生一个触发信号;

所述的多个IO单元,是多个并联并与电源钳位电路同样跨接于电源和地之间,所述的IO单元,每个单元均具有IO口,所述的IO口是会受到静电放电的影响的IO口;

所述的IO单元,均包含有前驱电路、控制电路以及后驱电路,所述控制电路及后驱电路连接电源和地;

所有IO单元的前驱电路均连接到ESD侦测电路的ESD触发信号端以接收ESD触发信号,然后前驱电路的输出端产生相应的控制信号提供给控制电路。

进一步地,所述的IO单元中的后驱电路为CMOS,包含有一PMOS及一NMOS,两者串联后分别连接电源和地,串联的节点为IO端口。

进一步地,所述IO单元的控制电路包含一NMOS及一PMOS,NMOS的漏极及PMOS的漏极分别接前驱电路的输出端,NMOS的栅极接ESD触发信号,并通过一反相器接PMOS的栅极,PMOS的源极接电源,NMOS的源极接地。

进一步地,所述IO单元的前驱电路的输出端还分别连接CMOS的两个栅极。

进一步地,所述的电源钳位电路包含有一静电释放晶体管,其用于将电源上的静电向地线释放,该晶体管是一个尺寸远大于其他晶体管的NMOS管。

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