[发明专利]一种芯片验证关键信号覆盖率统计分析方法和存储介质

说明书

本发明提供了一种芯片验证关键信号覆盖率统计分析方法和存储介质，所述方法包括以下步骤：预先设置关键信号信息，并以第一预设格式文件进行存储；所述关键信号信息包括至少一个关键信号名称、关键信号位宽和关键信号路径；将第一预设格式文件转换为第二预设格式文件；创建新的顶层文件，将所创建的顶层文件作为新的验证对象进行仿真验证，并输出仿真结果；第二预设文件中包含的关键信号通过指针指向原始待验证电路中名称一致的关键信号。当某一些关键信号的验证覆盖率未达到预设要求时，测试人员可以根据第二预设格式文件中的测试结果，可以有针对性地修改这些关键信号对应的测试用例再次进行仿真验证，有效解决了验证不充分的问题。

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，特别涉及一种芯片验证关键信号覆盖率统计分析方法和存储介质。

背景技术

随着SOC芯片规模的快速增长,其对应的芯片验证难度也在快速上升。芯片的开发过程一般包括设计和验证两部分,其中，验证过程的难度往往要高于设计难度，尤其是在芯片规模很大的情况下。

设计复杂的SOC芯片在进行验证时,必然是多个验证工程师协作完成整个验证任务,而在任务的划分过程中,难免会存在很多芯片系统中需要多人共同完成验证的部分,比如IO复用为多种功能使用(如spi,i2c,uart三种功能复用到相同的IO),这就需要负责spi,i2c,uart三个模块的工程师协同进行验证。但是，由于每个验证工程师往往只熟悉自己的对应的模块部分，很容易造成这种需要多人共同完成验证的电路，在验证过程极易出现遗漏或者验证不充分的情况。

传统的验证检查方式就是观察仿真波形,极为耗费人力.同时由于仿真时做覆盖率分析需要额外花费较大的存储损耗和cpu运算损耗,如果对一整个复杂SOC芯片进行覆盖率分析几乎是不可能实现的.因此本发明提出了一种芯片验证关键信号覆盖收集平台设计方法,该方法可以在不影响原有验证前提下,自动收集并只收集验证人员关心的信号验证覆盖情况,不再需要验证人员进行人工检查仿真波形,也避免了传统验证中芯片验证容易出现验证遗漏或者验证不充分的问题.

发明内容

为此，需要提供一种芯片验证关键信号覆盖率统计分析的技术方案，用以解决现有的芯片验证关键信号的方式，在验证过程中极易出现遗漏或者验证不充分的问题。

为实现上述目的，发明人提供了一种芯片验证关键信号覆盖率统计分析方法，所述方法包括以下步骤：

预先设置关键信号信息，并以第一预设格式文件进行存储；所述关键信号信息包括至少一个关键信号名称、关键信号位宽和关键信号路径；

将第一预设格式文件转换为第二预设格式文件；

创建新的顶层文件，将所创建的顶层文件作为新的验证对象进行仿真验证，并输出仿真结果；所述新的顶层文件包括原始待验证电路顶层和第二预设格式文件，所述原始待验证电路顶层和第二预设格式文件位于同一层路径，第二预设文件中包含的关键信号通过指针指向原始待验证电路中名称一致的关键信号。

进一步地，所述方法包括以下步骤：

在RTL仿真软件平台上进行功能验证仿真,并在仿真的同时打开覆盖率检查选项,对第二预设格式文件内的关键信号进行覆盖率跟踪；

在仿真结束后将所有模块的仿真覆盖率文件汇总到一个存储目录下,并通过仿真工具的覆盖率产生命令来生成第二预设格式文件中的覆盖率报告；

仿真平台根据第二预设格式文件中各个关键信号的预设覆盖率，输出未满足预设覆盖率条件的关键信号信息。

进一步地，所述方法包括以下步骤：

当第二预设格式文件中的某个关键信号的覆盖率达不到预设覆盖率时，仿真平台获取该关键信号的约束条件，并以时间为种子随机生成新的测试用例，再次进行仿真验证。