[发明专利]一种实现图像自校正的X射线图像探测器及其方法

权利要求书

1.一种X射线图像探测器实现图像自校正的方法，其特征在于包括如下步骤：

步骤S1：改变X射线管的管电压，分别探测获取不同管电压的X射线穿过对应材料厚度的X射线强度；

步骤S2：分别将获取的多个X射线强度进行预处理后，确定管电压与取对数后的X射线强度的比值之间的关系式；

步骤S3：采集暗场图像，保存所得到的暗场模板图；

步骤S4：加载X射线，改变管电流与曝光时间的乘积，通过空场分别釆集对应的亮场图像，并利用拟合标定法确定出亮场图像中每一像素的光响应系数后进行归一化处理，得到不同管电压下的亮场图像中每一像素的增益系数，将其作为相应的亮场图像的增益校正模板进行保存；

步骤S5：在正常拍片时，根据管电压与取对数后的X射线强度的比值之间的关系式，计算当前管电压，并判断是否有当前管电压对应的亮场图像的增益校正模板；

如果判断有，则调用暗场模板图及与当前管电压对应的亮场图像的增益校正模板对所采集的初始数字图像进行校正；否则，在己有增益校正模板中选取的两个与当前管电压相邻的管电压所对应的亮场图像中每一像素的增益系数，根据线性插值法，得到并保存当前管电压对应的亮场图像的增益校正模板，并调用暗场模板图，对所釆集的初始数字图像进行校正。

2.一种X射线图像探测器实现图像自校正的方法，其特征在于包括如下步骤：

步骤S1：改变X射线管的管电压，分别探测获取不同管电压的X射线穿过对应材料厚度的X射线强度；

步骤S2：分别将获取的多个X射线强度进行预处理后，确定管电压与取对数后的X射线强度的比值之间的关系式；

步骤S3：采集暗场图像，保存所得到的暗场模板图；

步骤S4：加载X射线，改变管电流与曝光时间的乘积，通过空场分别采集对应的亮场图像，并利用拟合标定法确定出亮场图像中每一像素的光响应系数后进行归一化处理，得到不同管电压下的亮场图像中每一像素的增益系数，将其作为相应的亮场图像的增益校正模板进行保存；

步骤S5：在正常拍片时，根据管电压与取对数后的X射线强度的比值之间的关系式，计算当前管电压，并判断是否有当前管电压对应的亮场图像的增益校正模板；

如果判断有，则调用暗场模板图及与当前管电压对应的亮场图像的增益校正模板对所采集的初始数字图像进行校正；否则，根据在己有增益校正模板中选取的最接近当前管电压的管电压所对应的亮场图像的增益校正模板，得到并保存与当前管电压对应的亮场图像的增益校正模板，并调用暗场模板图，对所采集的初始数字图像进行校正。

3.如权利要求1或2所述的X射线图像探测器实现图像自校正的方法，其特征在于步骤S2包括如下子步骤：

步骤S201：计算出不同管电压对应的X射线强度的比值并取对数，并制作X射线能级查找表；

步骤S202：将X射线能级查找表中的每个管电压及与其对应的取对数后的X射线强度的比值进行拟合标定，得到管电压与取对数后的X射线强度的比值之间的关系式。

4.如权利要求1或2所述的X射线图像探测器实现图像自校正的方法，其特征在于：

步骤S3中，所述暗场模板图包括所述暗场图像中每一像素的灰度值。

5.如权利要求1或2所述的X射线图像探测器实现图像自校正的方法，其特征在于步骤S4包括如下子步骤：

步骤S401：在每个管电压下，加载X射线，并改变管电流与曝光时间的乘积，通过空场分别米集对应的亮场图像

步骤S402：将每个管电压下，不同管电流与曝光时间的乘积及其对应的亮场图像中相同像素的灰度值进行拟合标定，得到亮场图像中每一像素的光响应系数；

步骤S403：将得到的与管电压对应的亮场图像中每一像素的光响应系数进行归一化处理，得到与管电压对应的亮场图像中每一像素的增益系数，将其作为与管电压对应的亮场图像的增益校正模板进行保存。