[发明专利]探测深度的确定方法、装置、设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 201810699226.3 申请日: 2018-06-29
公开(公告)号: CN108646295B 公开(公告)日: 2020-04-14
发明(设计)人: 张延 申请(专利权)人: 深圳市汇沣世纪数据工程有限公司
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 518052 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 探测 深度 确定 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种探测深度的确定方法,其特征在于,包括:

获取至少两个检波器接收到的探测信号,所述探测信号基于地下介质对地震雷达发射的地震波进行折射和反射生成;

按照设定时间长度对每个探测信号进行分段,以生成多个子探测信号;

按照输出各子探测信号的检波器的位置顺序分别确定各采样区段中每个子探测信号的下一子探测信号;

计算各子探测信号的第一自谱密度、各下一子探测信号的第二自谱密度以及各子探测信号与对应下一子探测信号的交叉普密度;

根据所述第一自谱密度、所述第二自谱密度和所述交叉普密度确定各子探测信号的一致性函数值;

按照所属采样区段的起始时间由小到大的顺序分别对每个探测信号中的各子探测信号进行排序;

按照所述排序计算每个子探测信号的一致性函数值与对应下一子探测信号的一致性函数值之间的比值;

如果所述比值大于设定阈值,则将所述比值对应的子探测信号确定为所述子探测信号所属探测信号的目标子探测信号;

根据各探测信号的目标子探测信号对应的探测深度范围确定所述地震雷达的探测深度。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一自谱密度、所述第二自谱密度和所述交叉普密度确定各子探测信号的一致性函数值,包括:

通过如下公式计算各子探测信号的一致性函数值:

其中,Sx(ω),为当前子探测信号的第一自谱密度,Sy(ω)为下一子探测信号的第二自谱密度,Sxy(ω)为所述当前子探测信号和所述下一子探测信号的交叉谱密度。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据各探测信号的目标子探测信号对应的探测深度范围确定所述地震雷达的探测深度,包括:

根据所述地震雷达在探地介质中的传播速度计算各目标子探测信号的最大采样深度;

基于各目标子探测信号最大采样深度的平均值确定所述地震雷达的探测深度。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述按照所属采样区段的起始时间由小到大的顺序分别对每个探测信号中的各子探测信号进行排序,包括:

以输出各子探测信号的检波器的位置顺序为行方向、以子探测信号所属采样区段的起始时间由小到大为列方向构建一致性函数矩阵:

其中,Cn表示探测信号n的一致性函数值矩阵;cmn表示探测信号n在第m个采样区段的子探测信号与探测信号n+1在第m个采样区段的子探测信号之间的一致性函数值;

相应的,所述按照所述排序计算每个子探测信号的一致性函数值与对应下一子探测信号的一致性函数值之间的比值,包括:

按照所述一致性函数矩阵的列方向依次计算每列中的各一致性函数值与下一个一致性函数值之间的比值。

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