[发明专利]框胶宽度测量设备及测量框胶宽度的方法

说明书

本申请公开了一种框胶宽度测量设备以及测量框胶宽度的方法，该框胶宽度测量设备用于检查显示面板的对位精度，其包括：光源；摄像装置，摄像装置包括沿光路依序设置的第一光学镜头以及偏光组件，第一光学镜头为彩色镜头，用于当光源发出光照射在待检查显示面板上时，摄像装置通过第一光学镜头拍摄待检查显示面板而形成第一图像；处理装置，用于对第一图像进行处理以获得显示面板的框胶的宽度，其中，框胶的宽度为框胶远离液晶一侧的边缘和框胶与液晶交界处的边缘之间的距离，通过该框胶宽度测量设备不仅能够检查显示面板的对位精度，还能够在框胶被走线遮挡时测量其宽度。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种框胶宽度测量设备及测量框胶宽度的方法。

背景技术

随着科技的进步，液晶显示器已经成为显示领域的主流产品，其主要包括：阵列基板、彩膜基板、夹在阵列基板和彩膜基板之间的液晶以及框胶。

MAI(Mis-Alignment Inspection)对位检查设备主要是检查阵列基板与彩膜基板贴合后精度的设备，能够及时检查以及反馈显示面板的对位精度，保证良品产出。通过依据目前产品的实际特性以及品质要求，框胶压合后其宽度也需要及时检出，以利于及时指导产线框胶涂布制程，降低不良风险。

本申请的发明人在长期的研究中发现，现有技术中MAI对位检查设备无法测量出框胶宽度，特别是在框胶被走线遮挡的情况下，因此在实际中多采用Offline显微镜检查框胶的宽度，从而指导产线生产，这种方式会耗费大量的人力、物力以及时间，不符合自动化生产线高效率生产模式，且在生产过程中无法实现及时抽检，产品质量存在较大风险。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种框胶宽度测量设备以及测量框胶宽度的方法，既能够检查显示面板的对位精度，还能够在框胶被走线遮挡时测量其宽度。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种框胶宽度测量设备，用于检查显示面板的对位精度，其中，所述显示面板包括阵列基板、彩膜基板、夹设在所述阵列基板和所述彩膜基板之间的液晶以及用于将所述阵列基板和所述彩膜基板粘贴在一起的框胶，所述框胶宽度测量设备包括：

光源；

摄像装置，所述摄像装置包括沿光路依序设置的第一光学镜头以及偏光组件，所述第一光学镜头为彩色镜头，用于当所述光源发出光照射在待检查显示面板上时，所述摄像装置通过所述第一光学镜头拍摄所述待检查显示面板而形成第一图像；

处理装置，用于对所述第一图像进行处理以获得所述显示面板的框胶的宽度，其中，所述框胶的宽度为所述框胶远离液晶一侧的边缘和所述框胶与所述液晶交界处的边缘之间的距离。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种测量框胶宽度的方法，所述方法利用上述的框胶宽度测量设备，所述方法包括：

所述光源发出光照射在所述待检查显示面板上；

所述摄像装置通过所述第一光学镜头拍摄所述待检查显示面板而形成第一图像；

所述处理装置对所述第一图像进行处理以获得所述框胶的宽度，其中，所述框胶的宽度为所述框胶远离液晶一侧的边缘和所述框胶与液晶交界处的边缘之间的距离。

本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请中的框胶宽度测量设备包括：光源；摄像装置，摄像装置包括沿光路依序设置的第一光学镜头以及偏光组件，第一光学镜头为彩色镜头，用于当光源发出光照射在待检查显示面板上时，摄像装置通过第一光学镜头拍摄待检查显示面板而形成第一图像；处理装置，用于对第一图像进行处理以获得显示面板的框胶的宽度，其中，框胶的宽度为框胶远离液晶一侧的边缘和框胶与液晶交界处的边缘之间的距离，通过该框胶宽度测量设备不仅能够检查显示面板的对位精度，还能够在框胶被走线遮挡时测量其宽度。

附图说明