[发明专利]框胶宽度测量设备及测量框胶宽度的方法有效

专利信息
申请号: 201810698904.4 申请日: 2018-06-29
公开(公告)号: CN108871191B 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 杨亮 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/02
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 钟子敏
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 宽度 测量 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种框胶宽度测量设备,用于检查显示面板的对位精度,其中,所述显示面板包括阵列基板、彩膜基板、夹设在所述阵列基板和所述彩膜基板之间的液晶以及用于将所述阵列基板和所述彩膜基板粘贴在一起的框胶,其特征在于,所述框胶宽度测量设备包括:

光源;

摄像装置,所述摄像装置包括沿光路依序设置的第一光学镜头以及偏光组件,所述第一光学镜头为彩色镜头,用于当所述光源发出光照射在待检查显示面板上时,所述摄像装置通过所述第一光学镜头拍摄所述待检查显示面板而形成第一图像;

处理装置,用于对所述第一图像进行处理以获得所述显示面板的框胶的宽度,其中,所述框胶的宽度为所述框胶远离液晶一侧的边缘和所述框胶与所述液晶交界处的边缘之间的距离。

2.根据权利要求1所述的框胶宽度测量设备,其特征在于,所述框胶宽度测量设备还包括:

第二光学镜头,所述第二光学镜头为黑白镜头,当所述光源发出光照射在所述待检查显示面板上时,所述摄像装置通过所述第二光学镜头拍摄所述待检查显示面板而形成第二图像,

所述处理装置还用于对所述第二图像进行处理以获得所述阵列基板和所述彩膜基板之间的对位精度。

3.根据权利要求1所述的框胶宽度测量设备,其特征在于,

所述偏光组件设置在所述第一光学镜头邻近所述待检查显示面板的一侧。

4.根据权利要求1所述的框胶宽度测量设备,其特征在于,

所述偏光组件包括:偏光镜片。

5.根据权利要求1所述的框胶宽度测量设备,其特征在于,

所述摄像装置为电荷耦合元器件摄像装置;和/或,所述光源和所述第一光学镜头位于所述显示面板的相对两侧。

6.一种测量框胶宽度的方法,其特征在于,所述方法利用权利要求1所述的框胶宽度测量设备,所述方法包括:

所述光源发出光照射在所述待检查显示面板上;

所述摄像装置通过所述第一光学镜头拍摄所述待检查显示面板而形成第一图像;

所述处理装置对所述第一图像进行处理以获得所述框胶的宽度,其中,所述框胶的宽度为所述框胶远离液晶一侧的边缘和所述框胶与液晶交界处的边缘之间的距离。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述处理装置对所述第一图像进行处理以获得所述框胶的宽度,包括:

所述处理装置从所述第一图像中提取所述框胶远离液晶一侧的边缘的第一成像和所述框胶与所述液晶交界处的边缘的第二成像;

所述处理装置获取所述第一成像与所述第二成像之间的第一距离,所述第一距离为所述框胶的宽度。

8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述摄像装置还包括第二光学镜头,所述第二光学镜头为黑白镜头,所述方法还包括:

所述摄像装置通过所述第二光学镜头拍摄所述待检查显示面板而形成第二图像;

所述处理装置根据所述第二图像计算出所述阵列基板与所述彩膜基板之间的对位精度。

9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,

所述偏光组件设置在所述第一光学镜头邻近所述待检查显示面板的一侧,所述偏光组件包括:偏光镜片。

10.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,

所述摄像装置为电荷耦合元器件摄像装置;和/或,所述光源和所述第一光学镜头位于所述显示面板的相对两侧。

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