[发明专利]半导体激光器自动功能测试系统

说明书

一种半导体激光器自动功能测试系统，包括：工作台；光功率检测组件，光功率检测组件包括光功率计探头、及功率采集器；光功率计探头根据激光光线的功率而产生相应的功率电信号功率采集器对功率电信号采集；光谱检测组件，光谱检测组件包括光谱导光光纤、及与光谱导光光纤耦合的光谱仪；驱动电源，用于向半导体激光器输出电流；及数据处理装置，光谱仪将光谱检测数据输出至数据处理装置；数据处理装置对驱动电源的输出电流进行控制。通过数据处理装置控制驱动电源的输出电流，使半导体激光器的通过电流按预定规律进行变化，结合光功率检测组件及光谱检测组件的检测数据，从而可自动地计算出半导体激光器的光功率电流特性曲线及光谱电流特性曲线。

技术领域

本发明涉及半导体激光器测试技术，特别是涉及一种半导体激光器自动功能测试系统。

背景技术

半导体激光管具有体积小、效率高、使用方便等特点，因而得到了广泛的应用。根据半导体激光管的特性可知，半导体激光管输出光功率和光谱随激光管的驱动电流大小和工作温度的变化而变化。为向用户提供半导体激光器的完整信息，半导体激光器在开发或生产阶段需要进行功率电流特性的测试以及光谱特性的测试；然而，传统的技术方案一般通过人工调节电流及进行光功率、光谱信息记录，导致半导体激光器的光功率电流特性测试及光谱电流特性测试的效率较低。

发明内容

基于此，有必要针对半导体激光器功率的电流特性测试及谱电流特性测试的效率较低的问题，提供一种半导体激光器自动功能测试系统。

一种半导体激光器自动功能测试系统，包括：

工作台；

光功率检测组件，用于对半导体激光器输出的光功率进行检测；所述光功率检测组件包括安装在所述工作台上光功率计探头、及功率采集器；所述光功率计探头根据所述半导体激光器发出的激光光线的功率而产生相应的功率电信号，并输出至所述功率采集器；所述功率采集器对功率电信号进行采集；

光谱检测组件，用于对所述半导体激光器输出的激光的光谱进行检测；所述光谱检测组件包括光谱导光光纤、及与所述光谱导光光纤耦合的光谱仪；所述光谱导光光纤的输入端设置在所述工作台上，且与所述光功率计探头对应设置；

驱动电源，用于向所述半导体激光器输出电流；及

数据处理装置，所述光谱仪将光谱检测数据输出至所述数据处理装置；所述功率采集器将功率电信号输出至所述数据处理装置；所述数据处理装置对所述驱动电源的输出电流进行控制。

上述半导体激光器自动功能测试系统，通过数据处理装置控制驱动电源的输出电流，使半导体激光器的通过电流按预定规律进行变化，结合光功率检测组件及光谱检测组件的检测数据，从而可自动地计算出半导体激光器的光功率电流特性曲线及光谱电流特性曲线。

在其中一个实施例中，所述光功率计探头包括安装在所述工作台上的检测主体；所述检测主体包括外壳、及设置在所述外壳内的探测模组；所述外壳上设有进光口；所述探测模组设有感应部；所述探测模组的感应部与所述外壳的进光口对应；所述光谱导光光纤的输入端与所述进光口对应设置。

在其中一个实施例中，所述光功率计探头还包括连接所述外壳的夹持座；所述夹持座上设有容纳槽；所述容纳槽与所述进光口对应设置。

在其中一个实施例中，所述夹持座包括连接所述外壳的第一延伸板、连接所述第一延伸板的第二延伸板、及连接所述第二延伸板的导向块。

在其中一个实施例中，所述光谱检测组件还包括第二支撑架，所述光谱导光光纤通过所述第二支撑架安装在所述工作台上；所述光谱检测组件还包括安装在所述第二支撑架上的衰减片；所述衰减片与所述光谱导光光纤的端口对应设置。

在其中一个实施例中，还包括光斑检测组件，所述光斑检测组件包括监测相机，所述监测相机安装在所述工作台上，所述监测相机的摄像口与所述探测模组的感应部对应。