[发明专利]存储器装置及验证数据路径完整性的方法

权利要求书

1.一种验证存储器装置中的数据路径完整性的方法，其包括：

从所述存储器装置的存储器单元阵列将部分编程的第一组数据读取到所述存储器装置的页寄存器中；

将所述部分编程的第一组数据加载到所述存储器装置的高速缓冲存储寄存器中；

在从所述存储器单元阵列至所述页寄存器的第二组数据的读取期间将一组部分测试数据写入到所述高速缓冲存储寄存器的不含有所述部分编程的第一组数据的一部分，其中在将所述组部分测试数据写入到所述高速缓冲存储寄存器的所述部分之前所述高速缓冲存储寄存器的所述部分仅含有空白数据；

在从所述存储器单元阵列至所述页寄存器的所述第二组数据的所述读取期间从所述高速缓冲存储寄存器的所述部分读取所述组部分测试数据；及

将从所述高速缓冲存储寄存器的所述部分所读取的所述组部分测试数据与用于写入至所述高速缓冲存储寄存器的所述部分的所述组部分测试数据进行比较。

2.根据权利要求1所述的方法，其中在于所述存储器单元阵列上的读取操作期间执行验证数据路径完整性。

3.根据权利要求1所述的方法，其中在所述存储器装置的调试模式中执行验证数据路径完整性。

4.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：在加载所述部分编程的第一组数据之前进入所述存储器装置的调试模式。

5.根据权利要求4所述的方法，其中用于验证数据路径完整性的命令仅在所述调试模式中可用。

6.根据权利要求4所述的方法，其进一步包括在比较从所述高速缓冲存储寄存器所读取的所述组部分测试数据与用于写入至所述高速缓冲存储寄存器的所述部分的 所述组部分测试数据之后退出所述调试模式。

7.根据权利要求1所述的方法，其中在从所述高速缓冲存储寄存器的所述部分读取所述组部分测试数据时从所述高速缓冲存储寄存器所读取的数据包括过去写入到所述高速缓冲存储寄存器的所述部分的所述组部分测试数据。

8.根据权利要求1所述的方法，其中在从所述高速缓冲存储寄存器的所述部分读取所述组部分测试数据时从所述高速缓冲存储寄存器所读取的数据由过去写入到所述高速缓冲存储寄存器的所述部分的所述组部分测试数据所组成。

9.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括在所述第二组数据的所述读取期间清除所述高速缓冲存储寄存器。

10.根据权利要求9所述的方法，其中从所述高速缓冲存储寄存器的所述部分所读取的所述组部分测试数据来自所述高速缓冲存储寄存器的任何部分。

11.根据权利要求9所述的方法，其中写入至所述高速缓冲存储寄存器的所述部分的所述组部分测试数据包括写入到所述高速缓冲存储寄存器的任何部分。

12.一种验证存储器装置中的数据路径完整性的方法，其包括：

从所述存储器装置的存储器单元阵列将部分编程的第一组数据读取到所述存储器装置的页寄存器中；

将所述部分编程的第一组数据加载到所述存储器装置的高速缓冲存储寄存器中；

在将所述部分编程的第一组数据加载到所述高速缓冲存储寄存器中之后且在从所述存储器单元阵列至所述页寄存器的第二组数据的读取期间清除所述高速缓冲存储寄存器，然后在从所述存储器单元阵列至所述页寄存器的所述第二组数据的所述读取期间将一组部分测试数据写入至经清除的所述高速缓冲存储寄存器的一部分；

在从所述存储器单元阵列至所述页寄存器的所述第二组数据的所述读取期间从所述高速缓冲存储寄存器的所述部分读取所述组部分测试数据；以及

将从所述高速缓冲存储寄存器的所述部分所读取的所述组部分测试数据与用于写入至经清除的所述高速缓冲存储寄存器的所述部分的所述组部分测试数据进行比较。