[发明专利]一种齿轮类零件的测量方法

说明书

本发明提供一种齿轮类零件的测量方法，首先扫描出齿轮形型轮廓，其次构建理论平面，然后通过齿轮线型轮廓与理论平面相交点构建得出齿轮类相关参数，利用PC‑DMIS扫描功能的技术重组与几何构造原理来得到齿轮类零件的参数，如齿轮大径、中径、底径，测量精确、操作简便、成本低，能满足开发型企业对齿轮类零件的参数测量要求，极大程度降低了测量成本。通过本发明，以解决现有技术存在的为了保证测量精度，需高价购买官方专业的测量模块和其他的专业测量仪器，对专业测量仪器依赖性较高，操作相对复杂，成本较高的问题。

技术领域

本发明涉及精密测量技术领域，具体涉及一种齿轮类零件的测量方法。

背景技术

随着人们对产品质量、产品精度的关注度日益提升，越来越多的现代工矿企业对机械设备的精度要求也相应的越来越高。这迫使在零部件的生产过程中，既要充分考虑设计的合理性及加工的精密性，又要注重产品的低成本、加工友好性。

齿轮作为传递运动和动力的基础零件，在工业的发展中发挥着十分重要的作用。由于汽车、机器人、航空航天工业的高速发展，大大地刺激了对齿轮产品的需求，从而带动了我国齿轮制造业的快速增长。为满足高质量、低噪声齿轮大批量生产的要求，齿轮的质量控制和检测显得尤为重要，并且各种先进的计算机技术、激光加工技术、信号处理技术、图像处理技术等不断地应用到齿轮测量中，推动了齿轮测量技术的飞速发展。

随着精密制造业的飞速发展，齿轮的尺寸越来越小，而精度要求却越来越高。中小型工业企业在从事齿轮类零件开发时，由于测量技术相对落后，齿轮类零件的参数测量相对困难，测量精度和重复性无法保证。为了保证测量精度，需高价购买官方专业的测量模块和其他的专业测量仪器，对专业测量仪器依赖性较高，操作相对复杂，保养能力要求高，并且成本也较高。

发明内容

本发明提供一种齿轮类零件的测量方法，以解决现有技术存在的为了保证测量精度，需高价购买官方专业的测量模块和其他的专业测量仪器，对专业测量仪器依赖性较高，操作相对复杂，成本较高的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供一种齿轮类零件的测量方法，包括以下步骤：

步骤1、建立基准坐标系用开线扫描扫出每个齿轮线型轮廓；

步骤2、利用中心扫描扫出每个齿轮底径点，然后将所扫描出来的所有齿轮底径点拟合成一个圆，即得到齿轮底径；

步骤3、将用开线扫描得到的每个齿轮轮廓中心与原点连成一条直线，即为单齿中心线；

步骤4、用每条直线定方向旋转到一轴，如X轴，得到一个独立的坐标系，独立坐标系的个数依据齿轮齿数而定，然后根据图纸计算出单个齿轮中径处的距离L；

步骤5、在当前坐标系下，对于每个齿轮，以单齿中心线为轴线，以L/2为间距构造理论平面A1、A2，得到若干个理论平面；

步骤6、各个理论平面与开线扫描的轮廓线相交，得到相交点，然后将所得到的相交点拟合成一个圆，即得到齿轮中径。

进一步地，将步骤1中用开线扫描得到的每个齿轮轮廓中心拟合成一个圆，得到齿轮大径。

进一步地，步骤5中所述理论平面为平行于各个单齿中心线的直线，理论平面总个数为齿轮齿数的2倍。

本发明带来的有益效果：本发明提供的齿轮类零件的测量方法，测量精确、操作简便、成本低，能满足开发型企业对齿轮类零件的参数测量要求，使得从事齿轮类零件开发的中小型企业减少对官方专业的测量模块和其他的专业测量仪器的高价购买，减轻对专业测量仪器和测量模块的依赖，极大程度降低了测量成本。

附图说明

图1是根据本发明实施例的齿轮结构示意图。

图2是根据本发明实施例的测量方案示意图。