[发明专利]一种放射性活度传递测量装置及其活度测量方法

说明书

本公开属于放射性活度计量领域，特别涉及一种放射性活度传递测量装置，包括：屏蔽室、探测器、支撑台和参考源；其中探测器设置在屏蔽室内，并且探测器为井型NaI(Tl)晶体组成的闪烁探测器；支撑台，用于支撑屏蔽室；参考源放置在探测器内。一种放射性活度测量方法，包括：a.开机、预热、检验探测器分辨率；b.对探测器进行能量刻度；c.测量本底能谱；d.测量待测样品能谱；e.读取样品的全谱计数率，得到样品净计数率n；f.将待测样品净计数率n与总效率带入式A＝n/ε_T中；g.计算得出待测样品活度A。从而实现一种体积小、重量轻的便携式放射性活度传递与测量装置及其测量方法。

技术领域

本发明属于放射性活度计量领域，特别涉及一种放射性活度传递测量装置及其活度测量方法。

背景技术

放射性活度测量是电离辐射计量学的重要组成部分，它广泛应用于核技术领域的各个方面。

放射性活度测量依赖于放射性活度标准装置，放射性活度标准装置测量结果的准确性和可靠性一般通过传递比较法和实验室比对进行验证。

放射性活度标准装置的铅屏蔽室重量一般在一吨左右。由于铅屏蔽室的重量和庞大体积，目前的放射性活度测量标准装置一般为实验室固定装置，难以满足对运输和转移比较困难的放射源的活度现场检定、校准需求，即不能实现通过放射源的传递比较法向高一级计量标准进行验证。

另外，目前放射性活度标准装置间的比对一般通过放射性标准溶液或标准源的传递。当放射性溶液或放射性源的流通受到限制时，比对验证也将难以开展。

发明内容

(一)发明的目的

为了解决现有技术的不足，本发明提供一种体积小、重量轻的便携式放射性活度传递测量装置及其活度测量方法。

(二)技术方案

为实现上述目的，采用以下技术方案：

一种放射性活度传递测量装置，包括：屏蔽室、探测器、支撑台和参考源；

其中所述探测器设置在屏蔽室内，并且所述探测器为井型NaI(Tl)晶体组成的闪烁探测器；

所述支撑台，用于支撑屏蔽室；

所述参考源放置在探测器内。

所述探测器包括：第一圆柱体、半球体和第二圆柱体；

所述半球体的直径与第一圆柱体的外径相同，并且半球体从第一圆柱体底面向下延伸；

所述第二圆柱体的外径小于半球体的直径，并且所述第二圆柱体从半球体下部向下延伸。

在所述探测器的第一圆柱体远离半球体的一端处设置井。

所述井的直径为10mm～40mm，并且井深度为10mm～94mm，所述井的直径与深度配合形成立体角范围是72.4％～99.9％。

所述屏蔽室包括：屏蔽体、屏蔽室顶盖、屏蔽室底座；

其中所述屏蔽体为管型结构，包括：第一管件和第二管件；所述第一管件外直径与第二管件的外直径相同，第一管件的内直径大于第二管件的内直径，第一管件与第二管件同轴一体成型；

所述屏蔽室顶盖为圆柱型结构，包括：顶盖第一圆柱和顶盖第二圆柱；其中所述顶盖第一圆柱的外直径与屏蔽体的外直径相同；所述顶盖第二圆柱的外直径与屏蔽体的第一管件内直径相同；所述顶盖第二圆柱与顶盖第一圆柱同轴一体成型；

所述屏蔽室底座为平板结构，在所述屏蔽室底座上设有环形凹槽，所述凹槽的宽度与所述屏蔽体的壁厚相同；

所述屏蔽体放置于屏蔽室底座的环形凹槽内，屏蔽室顶盖盖在屏蔽体远离屏蔽室底座的一端处。