[发明专利]一种放射性活度传递测量装置及其活度测量方法

权利要求书

1.一种放射性活度传递测量装置，包括：屏蔽室、探测器(3)、支撑台(6)和参考源；

其中所述探测器(3)设置在屏蔽室内，并且所述探测器(3)为井型NaI(Tl)晶体组成的闪烁探测器；

所述支撑台(6)，用于支撑屏蔽室；

所述参考源放置在探测器内。

2.根据权利要求1所述的一种放射性活度传递测量装置，其特征在于，所述探测器(3)包括：第一圆柱体(11)、半球体(12)和第二圆柱体(13)；

所述半球体(12)的直径与第一圆柱体(11)的外径相同，并且半球体(12)从第一圆柱体底面向下延伸；

所述第二圆柱体(13)的外径小于半球体(12)的直径，并且所述第二圆柱体(13)从半球体(12)下部向下延伸。

3.根据权利要求1所述的一种放射性活度传递测量装置，其特征在于，在所述探测器(3)的第一圆柱体(11)远离半球体(12)的一端处设置井。

4.根据权利要求3所述的一种放射性活度传递测量装置，其特征在于，所述井的直径为10mm～40mm，并且井深度为10mm～94mm，所述井的直径与深度配合形成立体角范围是72.4％～99.9％。

5.根据权利要求1所述的一种放射性活度传递测量装置，其特征在于，所述屏蔽室(3)包括：屏蔽体(2)、屏蔽室顶盖(1)、屏蔽室底座(5)；

其中所述屏蔽体(2)为管型结构，包括：第一管件(9)和第二管件(10)；所述第一管件(9)外直径与第二管件(10)的外直径相同，第一管件(9)的内直径大于第二管件(10)的内直径，第一管件(9)与第二管件(10)同轴一体成型；

所述屏蔽室顶盖(1)为圆柱型结构，包括：顶盖第一圆柱(7)和顶盖第二圆柱(8)；其中所述顶盖第一圆柱(7)的外直径与屏蔽体(2)的外直径相同；所述顶盖第二圆柱(8)的外直径与屏蔽体(2)的第一管件(9)内直径相同；所述顶盖第二圆柱(8)与顶盖第一圆柱(7)同轴一体成型；

所述屏蔽室底座(5)为平板结构，在所述屏蔽室底座(5)上设有环形凹槽，所述凹槽的宽度与所述屏蔽体(2)的壁厚相同；

所述屏蔽体(2)放置于屏蔽室底座(5)的环形凹槽内，屏蔽室顶盖(1)盖在屏蔽体(2)远离屏蔽室底座(5)的一端处。

6.根据权利要求1所述的一种放射性活度传递测量装置，其特征在于，所述屏蔽体(2)包括内衬，所述内衬的材料为铜。

7.根据权利要求1所述的一种放射性活度传递测量装置，其特征在于，所述支撑台(6)中间设有用于通过第二圆柱体(13)的贯穿孔。

8.根据权利要求1所述的一种放射性活度传递测量装置，其特征在于，所述探测器(3)与屏蔽室之间还包括探测器固定座(4)。

9.根据权利要求7所述的一种放射性活度传递测量装置，其特征在于，所述探测器固定座(4)为圆柱体，探测器固定座(4)外径与屏蔽室内径相同；所述探测器固定座(4)中轴处设有轴向贯穿孔，贯穿孔直径与探测器(3)的第二圆柱体(13)外径相同；所述探测器固定座(4)一端平面设有半球型凹槽，半球形凹槽直径与探测器(3)的半球体(12)直径相同。

10.根据权利要求1所述的一种放射性活度传递测量装置，其特征在于，所述参考源包括参考源顶盖(14)、参考源底托(15)和放射源；

其中，所述参考源顶盖(14)为设有盲孔的圆板；

所述参考源底托(15)为设有盲孔的圆板，所述参考源底托(15)的盲孔深度与所述参考源顶盖(14)的厚度相同，并且所述参考源底托(15)与参考源顶盖(14)可拆卸连接；

所述放射源为⁹⁴Nb，放射源放置在参考源顶盖(14)与参考源底托(15)形成的空隙内。

11.一种放射性活度测量方法，采用权利要求1所述装置的测量方法，其特征在于，

a.开机、预热、检验探测器分辨率；

b.对探测器进行能量刻度，用参考源低能射线设置测量阀值与效率刻度设置的阈值保持一致，检查其他测量参数与刻度设置的阈值一致；

c.测量本底能谱；

d.将待测样品放置在装置上已刻度效率的位置，测量待测样品能谱；

e.读取样品的全谱计数率，并对其进行本底修正后得到样品净计数率n；

f.从刻度数据库中读取待测核素的总效率，将待测样品净计数率n与总效率带入式A＝n/ε_T中；

g.计算得出待测样品活度A。