[发明专利]一种应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法在审
| 申请号： | 201810435064.2 | 申请日： | 2018-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN108680473A | 公开（公告）日： | 2018-10-19 |
| 发明（设计）人： | 冯银厂;徐娇;史国良;王玮 | 申请（专利权）人： | 南开大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/06;G06K9/62 |
| 代理公司： | 天津耀达律师事务所 12223 | 代理人： | 张耀 |
| 地址： | 300071*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 颗粒物 解析 单颗粒气溶胶 环境受体 单颗粒 排放源 质谱仪 粒径 质谱 高时间分辨率 大气颗粒物 解析结果 解析模型 精细化 分辨率 求解 应用 污染源 | ||
1.一种应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法，其特征在于所述方法包括：
第1步、构建污染源单颗粒质谱综合谱库；
第2步、找到某环境受体单颗粒X所属污染源范围P；
第3步、进一步分析环境受体单颗粒X所属污染源P中的特征Pi；
第4步、求解Pi和二次源对环境受体单颗粒X的贡献值。
2.如权利要求1所述的应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法，其特征在于：所述的污染源单颗粒质谱综合谱库，是指通过用单颗粒气溶胶质谱仪采集而获得大量污染源单颗粒质谱数据，并利用kmeans聚类算法提取各源类的特征质谱，它们共同构成污染源单颗粒质谱综合谱库。数据包括m/z-1～-250和m/z 1～250上的峰面积值。
3.如权利要求1中所述的应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法，其特征在于：所述的找到某环境受体单颗粒X所属污染源范围P，是使用KNN分类器对环境受体X的所属源类P进行预测，需要输入的数据包括污染源单颗粒质谱综合谱库和环境受体X的质谱图。
4.如权利要求1中所述的应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法，其特征在于：所述的进一步分析环境受体X所属污染源P中的特征Pi，是使用KNN分类器对环境受体在源类P中预测所属特征Pi，需要输入的数据包括单颗粒质谱综合谱库和环境受体X的质谱图。
5.如权利要求1中所述的应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法，其特征在于：所述的求解Pi和二次源对X的贡献值，是使用CMB模型求解Pi和二次硫酸源和二次硝酸源对X的贡献值。
6.如权利要求1中所述的应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法，其特征在于：所述的环境受体单颗粒X，其特征在于是用单颗粒气溶胶质谱仪监测环境受体颗粒物所获得的一个颗粒物的单颗粒质谱数据，并同时获得该颗粒的粒径数据。
7.如权利要求2中所述的应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法，其特征在于：所述的单颗粒气溶胶质谱仪为SPAMS或ATOFMS质谱仪。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南开大学，未经南开大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810435064.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
