[发明专利]一种高速扫频激光光源的扫频参数测量仪

说明书

本发明公开了一种高速扫频光源的扫频参数测量仪，包括：光源接收装置，所述光源接收装置用于接收被测高速扫频激光光源，且将所述被测高速扫频激光光源色散后出射；设置于所述光源接收装置出光光路上的狭缝挡板，所述狭缝挡板的狭缝处标有波长刻度；设置于所述狭缝挡板出光光路上的采集处理装置，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，以及，确定所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度，进而达到测量高速扫频激光光源的波长调谐范围和扫频速度的目的。

技术领域

本发明涉及光学相干层析成像系统的扫频光源领域，更为具体的说，涉及一种高速扫频光源的扫频参数测量仪。

背景技术

光学相干层析成像是近年来迅速发展起来的一种成像技术，基于低相干干涉原理获得深度方向的层析能力，通过扫描可以重构出生物组织或材料内部结构的二维或三维图像，可进行活体组织显微镜结构的非接触式、非侵入性断层成像，已经在临床诊疗与科学研究中获得了广泛的应用。

扫频激光器是光学相干层析成像系统的关键部件，扫频激光器的扫频速度决定系统的成像速度，扫频激光器的调谐范围决定轴向分辨率，如何测量扫频激光光源的波长调谐范围和扫频速度，具有重要的现实意义。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种高速扫频光源的扫频参数测量仪，通过将被测高速扫频激光光源色散后出射至狭缝挡板，而后采集狭缝挡板出射的狭缝光，且确定狭缝光对应波长刻度的范围为被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，以及，确定采集处理装置采集波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为被测高速扫频激光光源的扫频速度，进而达到测量高速扫频激光光源的波长调谐范围和扫频速度的目的。

为实现上述目的，本发明提供的技术方案如下：

一种高速扫频激光光源的扫频参数测量仪，包括：

光源接收装置，所述光源接收装置用于接收被测高速扫频激光光源，且将所述被测高速扫频激光光源色散后出射；

设置于所述光源接收装置出光光路上的狭缝挡板，所述狭缝挡板的狭缝处标有波长刻度；

设置于所述狭缝挡板出光光路上的采集处理装置，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，以及，确定所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度。

可选的，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，包括：

所述采集处理装置沿所述波长刻度自小至大方向采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，其中，在初次采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最小值，以及，在最后采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最大值，以此确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围。

可选的，所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围，包括：

所述采集处理装置沿所述波长刻度自大至小方向采集所述狭缝挡板出射的狭缝光，其中，在初次采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最大值，以及，在最后采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最小值，以此确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围。

可选的，分析所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度，包括：