[发明专利]一种高速扫频激光光源的扫频参数测量仪在审
申请号: | 201810384791.0 | 申请日: | 2018-04-26 |
公开(公告)号: | CN108606779A | 公开(公告)日: | 2018-10-02 |
发明(设计)人: | 曹军胜;任绍敬;孙振宇;宁永强;高志坚 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扫频激光光源 狭缝 扫频 挡板 采集处理装置 光源接收装置 波长调谐 波长 参数测量仪 出射 采集 扫描频率 色散 预设 光源 测量 | ||
1.一种高速扫频激光光源的扫频参数测量仪,其特征在于,包括:
光源接收装置,所述光源接收装置用于接收被测高速扫频激光光源,且将所述被测高速扫频激光光源色散后出射;
设置于所述光源接收装置出光光路上的狭缝挡板,所述狭缝挡板的狭缝处标有波长刻度;
设置于所述狭缝挡板出光光路上的采集处理装置,所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光,且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围,以及,确定所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度。
2.根据权利要求1所述的高速扫频激光光源的扫频参数测量仪,其特征在于,所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光,且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围,包括:
所述采集处理装置沿所述波长刻度自小至大方向采集所述狭缝挡板出射的狭缝光,其中,在初次采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最小值,以及,在最后采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最大值,以此确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围。
3.根据权利要求1所述的高速扫频激光光源的扫频参数测量仪,其特征在于,所述采集处理装置采集所述狭缝挡板出射的狭缝光,且确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围,包括:
所述采集处理装置沿所述波长刻度自大至小方向采集所述狭缝挡板出射的狭缝光,其中,在初次采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最大值,以及,在最后采集到有光入射时对应所述波长刻度的值为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围的最小值,以此确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围。
4.根据权利要求1所述的高速扫频激光光源的扫频参数测量仪,其特征在于,分析所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度,包括:
所述采集处理装置确定所述波长调谐范围后,采集所述波长调谐范围中预设波长处在所述被测高速扫频激光光源的相邻两次沿所述波长调谐范围的最小值至所述波长调谐范围的最大值变化过程的间隔时间的倒数,为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度。
5.根据权利要求1所述的高速扫频激光光源的扫频参数测量仪,其特征在于,所述光源接收装置包括:
光纤接口,所述光纤接口用于接收所述被测高速扫频激光光源;
设置于所述光纤接口出光光路上的准直透镜,所述准直透镜用于将所述被测高速扫频激光光源准直;
以及,设置于所述准直透镜出光光路上的光栅,所述光栅用于将所述被测高速扫频激光光源色散后出射。
6.根据权利要求5所述的高速扫频激光光源的扫频参数测量仪,其特征在于,所述光栅为反射光栅。
7.根据权利要求1所述的高速扫频激光光源的扫频参数测量仪,其特征在于,所述采集处理装置包括:
光电传感器,所述光电传感器用于采集所述狭缝挡板出射的狭缝光,且转换为电信号输出;
与所述光电传感器相连的高速数据采集卡,所述高速数据采集卡用于采集所述光电传感器输出的电信号;
以及,与所述高速数据采集卡相连的工控机,所述工控机用于接收所述光电传感器输出的电信号,并确定所述狭缝光对应所述波长刻度的范围为所述被测高速扫频激光光源的波长调谐范围,以及,确定所述采集处理装置采集所述波长调谐范围中预设波长处的扫描频率为所述被测高速扫频激光光源的扫频速度。
8.根据权利要求7所述的高速扫频激光光源的扫频参数测量仪,其特征在于,所述光电传感器为硅光电探测器。
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