[发明专利]一种实现射频开关杂散测试的系统

说明书

本发明揭示了一种实现射频开关杂散测试的系统，包括双工器、射频开关、信号源和频谱仪，其中，双工器将所述信号源输出的发射信号传输至射频开关，射频开关在开关状态切换时根据发射信号产生反射信号，并由双工器将反射信号传输至频谱仪，频谱仪根据反射信号测试射频开关在开关状态切换时产生的杂散。通过使用双工器配合频谱仪和信号源来测试射频开关在开关状态切换时产生的杂散，不需要使用其他测试杂散的专用设备，系统结构简单，搭建方便，便于技术人员测试射频开关的杂散。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，特别涉及一种实现射频开关杂散测试的系统。

背景技术

在移动通信基站系统中，双工器是一个不可或缺的功能模块，其双工器的ANT口(天线端)会连接向周围空间辐射电磁波的天馈系统(包括TMA、电流注入器和天线等)。天馈系统与双工器这两个微波模块的连接，两个模块间阻抗不可能做到完全匹配，接口处存在或多或少的能量反射。当天馈系统严重失配时，即有效传输功率太少反射功率太多，基站系统中的许多模块尤其是功率放大器很容易被损坏，影响通信基站系统正常工作，所以监测系统中的入射功率和反射功率的关系很有必要，工程中一般采用驻波比(VSWR)或回波损耗(Return Loss)等参数来表示反射功率与入射功率的关系。因而在基站系统中增加一个驻波比检测系统来监测天馈系统是否失配很有必要。

如图1所示的驻波比检测系统，采用前后向双工器的耦合器模块分别检测入射和反射功率，根据入射功率和反射功率可以计算出驻波比，进而判断天馈系统失配与否。在主控制板供电模块对射频开关S1-7和2-4译码器(2-4DEC)供电的情况下，CPU_M(处理器)通过控制A、B和C三个信号的高低，采用轮询方式，令ADC(模数转换)模块周而复始地对四路前、反向(共八路)进行功率电平采样最后送至CPU_M处理。其中，A、B输入译码器产生编号1-4的信号，分别控制S1-4的使能脚，让其在同一时刻只有一个开启。同时A信号还控制S7，在同一时刻只能选通1和2路或3和4路，B信号控制S5-6，在同一时刻只能选通1路和3路或2路和4路。C信号控制S1-4，在同一时刻只能选通1-4路的前向或后向，从而测出入射功率和反射功率，进而得到驻波比。

在驻波比检测系统中，射频开关是其能正常工作的必备条件，同时射频开关在系统中开关状态不停切换，即根据需要使射频开关接通/断开/切换通路。当开关状态变化时，射频开关会由于阻抗失配而产生瞬时激励或反射，即射频开关状态切换产生杂散，该杂散的频带很宽，并且一般都可以到达双工器接收端的波段。如果杂散的电平过高，则在开关状态改变时，瞬态刺激与天线端口相耦合，使接收机的灵敏度降低。为了保证驻波比检测系统正常工作和测试结果，需要测试射频开关的杂散。

但是，传统的杂散测试需要模拟基站、频谱分析仪、带阻滤波器、可调滤波器、定向耦合器、衰减器和射频头等，所搭建的杂散测试系统不仅需要模拟基站等专用设备，而且结构复杂，技术人员测试杂散不方便。

发明内容

为了解决相关技术中存在的杂散测试需要使用专用设备和杂散测试系统结构复杂问题，本公开提供了一种实现射频开关杂散测试的系统。

一种实现射频开关杂散测试的系统，包括双工器、射频开关、信号源和频谱仪，其中，双工器将信号源输出的发射信号传输至射频开关，射频开关在开关状态切换时根据发射信号产生反射信号，并由双工器将反射信号传输至频谱仪，频谱仪根据反射信号测试射频开关在开关状态切换时产生的杂散。通过通信领域中常用的双工器来测试射频开关的杂散，而没有利用其它的专用设备来测试，系统结构简单，搭建容易，便于技术人员测试射频开关的杂散。

优选的，系统中还包括低噪声放大器，反射信号经双工器输出后先经低噪声放大器放大，再传输至频谱仪。

优选的，双工器包括发射端和第一滤波器，发射信号由发射端接收后，经第一滤波器滤波，再传输至射频开关。优选的，双工器包括第二滤波器和接收端，反射信号输入双工器后经第二滤波器滤波，再经接收端输出并传输至频谱仪。射频开关在开关状态切换时产生的杂散的频带在双工器接收端的带宽范围内，因而将反射信号通过接收端传输至频谱仪。