[发明专利]一种实现射频开关杂散测试的系统有效
申请号: | 201810374911.9 | 申请日: | 2018-04-24 |
公开(公告)号: | CN110401459B | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 刘世龙 | 申请(专利权)人: | 摩比天线技术(深圳)有限公司;摩比通讯技术(吉安)有限公司;摩比科技(西安)有限公司;摩比科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | H04B1/00 | 分类号: | H04B1/00;H04L5/14;H04B17/15 |
代理公司: | 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232 | 代理人: | 刘抗美 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 实现 射频 开关 测试 系统 | ||
1.一种实现射频开关杂散测试的系统,其特征在于,包括双工器、射频开关、信号源和频谱仪,其中,所述双工器将所述信号源输出的发射信号传输至所述射频开关,所述射频开关在开关状态切换时根据所述发射信号产生反射信号,并由所述双工器将所述反射信号传输至所述频谱仪,所述频谱仪根据所述反射信号测试所述射频开关在开关状态切换时产生的杂散;
所述射频开关包括使能端,所述使能端用于接收控制信号,所述射频开关的开关状态切换受控于所述控制信号;
所述频谱仪根据所述反射信号测试所述射频开关在开关状态切换时产生的杂散,包括:
在频谱仪中进行最大频率值搜索,得到频率值最大的第一频点,所述频谱仪的测试频率范围设置为双工器的接收端带宽;
根据所述第一频点对所述测试频率范围中的下频点和中心频点进行修改,并进行最大频率值二次搜索,得到频率值最大的第二频点及其对应的时间值;
确定频率值与所述第二频点的频率值相差预设值的第三频点和第四频点;
根据所述第三频点所对应的时间值和所述第四频点所对应的时间值计算所述射频开关在开关状态切换时产生的杂散。
2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括低噪声放大器,所述反射信号经双工器输出后先经低噪声放大器放大,再传输至所述频谱仪。
3.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述双工器包括发射端和第一滤波器,所述发射信号由发射端接收后,经第一滤波器滤波,再传输至所述射频开关。
4.如权利要求3所述的系统,其特征在于,在所述频谱仪根据所述反射信号测试所述射频开关在开关状态切换时产生的杂散之前,将所述发射端接收所述发射信号的功率配置为所述发射端的额定功率。
5.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述双工器包括第二滤波器和接收端,所述反射信号输入双工器后经第二滤波器滤波,再经接收端输出并传输至所述频谱仪。
6.如权利要求1所述的系统,其特征在于,其特征在于,所述双工器包括天线端,在所述频谱仪根据所述反射信号测试所述射频开关在开关状态切换时产生的杂散之前,电性连接所述天线端。
7.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述控制信号为方波信号。
8.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述根据所述第三频点所对应的时间值和第四频点所对应的时间值计算所述射频开关在开关状态切换时产生的杂散,包括:
所述射频开关在开关状态切换时产生的杂散=-134.5dBm/100kHz-10log(|T03-T04|us/3.69us),其中T03为第三频点所对应的时间值,T04为第四频点所对应的时间值,所述第三频点与所述第二频点的差值为 -3dB,所述第四频点与所述第二频点的差值为3dB。
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