[发明专利]一种基于可编程器件的LVDS接口的采样系统及采样方法有效
| 申请号： | 201810365610.X | 申请日： | 2018-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN110389546B | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 刘建华;仇德硕 | 申请（专利权）人： | 广州彩熠灯光股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/042 | 分类号： | G05B19/042 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 徐秋平 |
| 地址： | 510540 广东省广州市白云区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 可编程 器件 lvds 接口 采样系统 采样 方法 | ||
1.一种基于可编程器件的LVDS接口的采样系统的采样方法，其特征在于：所述基于可编程器件的LVDS接口的采样系统包括：可编程器件，包括至少一个LVDS接口和PWM输出端；RC电路，包括参考电阻和参考电容，所述参考电容的一端接地，另一端与所述LVDS接口的负输入端相连，所述参考电阻一端与所述LVDS接口的负输入端相连，另一端与所述PWM输出端相连；采样电阻，一端接地，另一端作为采样接入点，并与所述LVDS接口的正输入端相连；所述RC电路在一个采样周期内完成一次充放电；
所述基于可编程器件的LVDS接口的采样系统的采样方法包括以下步骤：
在一个采样周期内，采集所述LVDS接口的输入从1变为0所需的时间；
计算所述RC电路在所述时间内的充电电压，所述充电电压即为所述采样周期的采样电压。
2.根据权利要求1所述的基于可编程器件的LVDS接口的采样系统的采样方法，其特征在于：基于所述LVDS接口实现所述RC电路的放电。
3.根据权利要求2所述的基于可编程器件的LVDS接口的采样系统的采样方法，其特征在于：所述RC电路放电时，所述LVDS接口输出1。
4.根据权利要求1所述的基于可编程器件的LVDS接口的采样系统的采样方法，其特征在于：基于所述PWM输出端实现所述RC电路的放电。
5.根据权利要求4所述的基于可编程器件的LVDS接口的采样系统的采样方法，其特征在于：当所述RC电路放电时，所述PWM输出端输出低电平。
6.根据权利要求1所述的基于可编程器件的LVDS接口的采样系统的采样方法，其特征在于：当所述RC电路充电时，所述PWM输出端输出1；当所述RC电路放电时，所述PWM输出端输出0。
7.根据权利要求1所述的基于可编程器件的LVDS接口的采样系统的采样方法，其特征在于：所述可编程器件采用FPGA或CPLD。
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