[发明专利]一种排气后处理器性能快速分析系统在审

专利信息
申请号: 201810350000.2 申请日: 2018-04-18
公开(公告)号: CN108692945A 公开(公告)日: 2018-10-23
发明(设计)人: 楼狄明;张静;决坤有;耿小雨;谭丕强;胡志远 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G01M15/02 分类号: G01M15/02
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 蒋亮珠
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 后处理器 测试盘 排气 连接装置 快速分析系统 流出管路 依次串联 测试 试验
【权利要求书】:

1.一种排气后处理器性能快速分析系统,其特征在于,该系统包括依次串联连接的排气进入管路(1)、连接装置a(2)、DOC小样测试盘(3)、DOC后处理器(4)、连接装置b(5)、CDPF小样测试盘(6)、CDPF后处理器(7)、连接装置c(8)和排气流出管路(9),待测试的小样分别置于DOC小样测试盘(3)和CDPF小样测试盘(6)中。

2.根据权利要求1所述的一种排气后处理器性能快速分析系统,其特征在于,所述的DOC小样测试盘(3)与CDPF小样测试盘(6)盘体相同,包括壳体(31)、盘体(32)和小样固定装置(33);所述的壳体(31)包覆在盘体(32)的径向外围,所述的小样固定装置(33)设于盘体(32)上。

3.根据权利要求2所述的一种排气后处理器性能快速分析系统,其特征在于,所述的盘体(32)为全通式孔道结构,按其径向设有依次排列的数个小样固定装置(33)。

4.根据权利要求2或3所述的一种排气后处理器性能快速分析系统,其特征在于,所述的小样固定装置(33)包括小样安装壳(332)和分别位于其两端的进气端轴向固定片(331)和出气端轴向固定片(333),且两者分别位于小样固定装置(33)的外壁和内壁。

5.根据权利要求4所述的一种排气后处理器性能快速分析系统,其特征在于,所述的小样固定装置(33)通过进气端轴向固定片(331)固定于盘体(32)上。

6.根据权利要求4所述的一种排气后处理器性能快速分析系统,其特征在于,所述的待测试的小样外壁设有沟槽,所述的出气端轴向固定片(333)穿过该沟槽将待测试的小样固定。

7.根据权利要求1或5所述的一种排气后处理器性能快速分析系统,其特征在于,所述的待测试的小样包括标准小样(34)、待测DOC小样(35)和待测CDPF小样(36)。

8.根据权利要求1所述的一种排气后处理器性能快速分析系统,其特征在于所述的DOC后处理器(4)对通入排气中的气态污染物进行氧化处理;所述的CDPF后处理器(7)对通入排气中的颗粒物进行催化转化。

9.根据权利要求1所述的一种排气后处理器性能快速分析系统,其特征在于该系统的任意部位可开设采样孔,在采样孔进行气体采集并通过管道输送至气体检测装置,对气体进行检测分析。

10.根据权利要求1所述的一种排气后处理器性能快速分析系统,其特征在于该系统的各部分由紧固装置(10)紧固连接,该紧固装置(10)包括卡环(101)与螺栓机构;所述的卡环(101)的环内设有垫圈(105);所述的螺栓机构包括分别位于卡环(101)连接处两侧的螺栓(102)和螺母(106);卡环(101)连接处之间和螺母(106)的下方分别设有垫片a(104)和垫片b(103)。

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