[发明专利]一种利用高射频功率溅射制备ITO纳米线及其气体传感器的方法有效
申请号: | 201810344986.2 | 申请日: | 2018-04-17 |
公开(公告)号: | CN108588657B | 公开(公告)日: | 2020-03-17 |
发明(设计)人: | 李强;张袁涛;云峰 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/08;G01N27/12;B82Y40/00 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 田洲 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 射频 功率 溅射 制备 ito 纳米 及其 气体 传感器 方法 | ||
1.一种利用高射频功率制备ITO纳米线的方法,其特征在于,包括以下步骤:对衬底或陶瓷管进行预处理,然后置于磁控溅射腔中,调整溅射室气压和温度,并通入氩气和氧气的混合气体,利用磁控溅射的方式,在高频条件下轰击ITO靶材磁控溅射,进行一次生长,利用自催化原理在衬底或陶瓷管表面制备一层ITO纳米线;
将预处理过的衬底或陶瓷管放在溅射室托盘上,调整磁控溅射工艺参数:射频功率为250-300W,氩气和氧气的混合气体的比例为Ar:O2=25sccm:0.2sccm;溅射室气压为1Pa,温度为500℃。
2.根据权利要求1所述的一种利用高射频功率制备ITO纳米线的方法,其特征在于,磁控溅射的时间为20-60分钟,之后自然冷却至室温获得ITO纳米线。
3.根据权利要求2所述的一种利用高射频功率制备ITO纳米线的方法,其特征在于,自然冷却至室温后,在空气氛围下,400-500℃下快速退火5min,获得淡黄色ITO纳米线。
4.根据权利要求3所述的一种利用高射频功率制备ITO纳米线的方法,其特征在于,所获得淡黄色ITO纳米线的横向尺寸分布在30-70nm之间,长度可以达到2μm。
5.根据权利要求3所述的一种利用高射频功率制备ITO纳米线的方法,其特征在于,所获得淡黄色ITO纳米线的XRD测试结果,有两个主要的衍射峰,30.5°和35.4°分别对应氧化铟锡的(222)和(400)晶面;ITO纳米线的单晶结构中晶面间距为0.412nm。
6.一种ITO纳米线气体传感器的制备方法,其特征在于,采用权利要求1所述的一种利用高射频功率制备ITO纳米线的方法将ITO纳米线直接一步制备于接有引线的陶瓷管表面,所述陶瓷管内置有加热丝。
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