[发明专利]校正红外探测器的非均匀性的方法及装置

说明书

本发明实施例公开了一种非均匀性校正装置及使用该非均匀性校正装置校正红外探测器的非均匀性的方法。该装置设有多个恒温箱以及多个不同温度的黑体，通过位移电机可以控制该多个黑体依次移动到每个恒温箱中的红外探测器测试装置的探测范围内，使得这些红外探测器测试装置能够依次使用多个黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正。这样，可以方便地实现每个红外探测器测试装置中的红外探测器的多点校正。

技术领域

本发明涉及红外探测器领域，尤其是涉及一种非均匀性校正装置及使用其校正红外探测器的非均匀性的方法。

背景技术

当下由于红外探测器制作工艺的限制，在具体制作中，各像元间很难保证响应性能完全一致，由此将导致在实际成像中出现图像的各种不均匀现象。而现今普遍的处理方法是采用一点，两点甚至多点校正的方式，人为将探测器的各像素响应在均匀黑体辐射下校正均匀。理论上来说，采用校正的点数目越大，校正结果越准确。但考虑到实际软硬件情况，校正时大多采用两点校正法，且现有的校正装置都只能对一颗红外探测器进行校正。这样即使得校正准确性难以达到高精度应用要求，又存在校正效率低和人力物力资源浪费的现象。

发明内容

本发明的目的之一是提供一种非均匀性校正装置及使用其校正红外探测器的非均匀性的方法，通过该装置及方法，能够更高效地、批量地校正红外探测器的非均匀性，并且能够实现高精度、高准确性的校正。

一个实施例中，提供了一种使用非均匀性校正装置校正红外探测器的非均匀性的方法，其特征在于：

所述校正装置包括：

多个恒温箱，所述多个恒温箱沿第一方向排列，其中每个恒温箱中设有多个红外探测器测试装置，所述多个红外探测器测试装置在其所属的恒温箱中沿第二方向排列，所述多个红外探测器测试装置中的每个红外探测器测试装置能够对一个或者多个红外探测器进行非均匀性校正；

位移电机平台，所述位移电机平台上设有多个黑体和至少一个位移电机，所述多个黑体具有不同的温度，并且在所述位移电机平台上沿所述第一方向排列，所述至少一个位移电机能够驱动所述多个黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向和所述第一方向的反方向以及沿所述第二方向和所述第二方向的反方向运动，并且所述多个黑体的运动路径经过所述多个红外探测器测试装置的探测范围；

所述方法包括：

用所述至少一个位移电机驱动所述多个黑体中的第一黑体和第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向运动，使得所述第一黑体进入所述多个恒温箱中的第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围；

所述一个红外探测器测试装置用所述第一黑体对所述一个红外探测器测试装置内的红外探测器进行非均匀性校正；

用所述至少一个位移电机驱动所述第一黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第一黑体依次进入所述第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；

用所述至少一个位移电机驱动所述多个黑体中的第一黑体和第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向继续运动，使得所述第一黑体进入所述多个恒温箱中的第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围并且所述第二黑体进入所述第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围；

所述第二恒温箱中的所述一个红外探测器测试装置用所述第二黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；

所述第一恒温箱中的所述一个红外探测器测试装置用所述第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；