[发明专利]校正红外探测器的非均匀性的方法及装置

权利要求书

1.一种使用非均匀性校正装置校正红外探测器的非均匀性的方法，其特征在于：

所述校正装置包括：

多个恒温箱，所述多个恒温箱沿第一方向排列，其中每个恒温箱中设有多个红外探测器测试装置，所述多个红外探测器测试装置在其所属的恒温箱中沿第二方向排列，所述多个红外探测器测试装置中的每个红外探测器测试装置能够对一个或者多个红外探测器进行非均匀性校正；

位移电机平台，所述位移电机平台上设有多个黑体和至少一个位移电机，所述多个黑体具有不同的温度，并且在所述位移电机平台上沿所述第一方向排列，所述至少一个位移电机能够驱动所述多个黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向和所述第一方向的反方向以及沿所述第二方向和所述第二方向的反方向运动，并且所述多个黑体的运动路径经过所述多个红外探测器测试装置的探测范围；

所述方法包括：

用所述至少一个位移电机驱动所述多个黑体中的第一黑体和第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向运动，使得所述第一黑体进入所述多个恒温箱中的第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围；

所述一个红外探测器测试装置用所述第一黑体对所述一个红外探测器测试装置内的红外探测器进行非均匀性校正；

用所述至少一个位移电机驱动所述第一黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第一黑体依次进入所述第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；

用所述至少一个位移电机驱动所述多个黑体中的第一黑体和第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向继续运动，使得所述第一黑体进入所述多个恒温箱中的第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围并且所述第二黑体进入所述第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围；

所述第二恒温箱中的所述一个红外探测器测试装置用所述第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；

所述第一恒温箱中的所述一个红外探测器测试装置用所述第二黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；

用所述至少一个位移电机驱动所述第一黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第一黑体依次进入所述第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述第二恒温箱中的所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；

用所述至少一个位移电机驱动所述第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第二黑体依次进入所述第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述第一恒温箱中的所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第二黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述第一方向与所述第二方向相互垂直。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述第一黑体的温度小于所述第二黑体的温度。

4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述位移电机平台包括第一导轨和第二导轨，所述第一导轨沿所述第一方向延伸，所述第二导轨沿所述第二方向延伸，所述第二导轨设置在所述第一导轨上并能够相对于所述第一导轨在所述第一方向和所述第一方向的反方向上运动，所述多个黑体设置在所述第二导轨上并且能够相对于所述第二导轨在所述第二方向和所述第二方向的反方向上运动。

5.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述第一黑体具有第一温度，所述第二黑体具有第二温度，所述方法还包括：

将所述第一黑体的温度调节为所述第二温度，并将所述第二黑体的温度调节为所述第一温度；

用所述至少一个位移电机驱动所述多个黑体中的第一黑体和第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向的反方向运动，使得所述第二黑体进入所述多个恒温箱中的第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围；

所述一个红外探测器测试装置用所述第二黑体对所述一个红外探测器测试装置内的红外探测器进行非均匀性校正；

用所述至少一个位移电机驱动所述第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第二黑体依次进入所述第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第二黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；

用所述至少一个位移电机驱动所述第一黑体和第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第一方向的反方向继续运动，使得所述第二黑体进入所述多个恒温箱中的第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围并且所述第一黑体进入所述第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的一个红外探测器测试装置的探测范围；

所述第一恒温箱中的所述一个红外探测器测试装置用所述第二黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；

所述第二恒温箱中的所述一个红外探测器测试装置用所述第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；

用所述至少一个位移电机驱动所述第二黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第二黑体依次进入所述第一恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述第一恒温箱中的所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第二黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正；

用所述至少一个位移电机驱动所述第一黑体在所述位移电机平台上沿所述第二方向和/或所述第二方向的反方向运动，使得所述第一黑体依次进入所述第二恒温箱中的多个红外探测器测试装置中的其余红外探测器测试装置的探测范围，并且所述第二恒温箱中的所述其余红外探测器测试装置依次使用所述第一黑体对其内的红外探测器进行非均匀性校正。