[发明专利]同轴双曲率厚度测量装置在审

专利信息
申请号: 201810307101.1 申请日: 2018-04-08
公开(公告)号: CN108225247A 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 朱新强;吴群;张文轶;王佳鸣;郑锦永 申请(专利权)人: 上海舜宇恒平科学仪器有限公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 竺路玲
地址: 201103 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 探头 厚度测量装置 双曲率 同轴 同轴性 测量数据 调节方便 探头位置 专用检具 装置结构 螺钉 固定块 数显表 移动块 支架座 自检 借用 检测 灵活 保证
【说明书】:

发明公开了一种同轴双曲率厚度测量装置,其特征在于:它包括数显表(1)、支架座(2)、上探头(3)、下探头(4)、移动块(5)、固定块(6)、弹性体(7)和调节螺钉(8),该同轴双曲率厚度测量装置,不需要借用辅助、专用检具检测双曲率厚度测量装置的准确性和可靠性;能随时自检上探头和下探头的同轴性,保证测量数据的准确性,任何时候都可以调节下探头位置确保与上探头同轴性;而且调节方便、灵活、效率高,整个装置结构简单合理。

技术领域

本发明属于测量仪器技术领域,具体讲就是涉及自身能调节、修正同轴性的同轴双曲率厚度测量装置。

背景技术

弹簧片是电子天平的关键零件,对电子天平的性能其决定作用。如附图1所示,需要对弹簧片的成型部位双曲率厚度进行测量,以判定弹簧片的零件质量是否合格。目前常用同轴双曲率厚度测量装置对弹簧片的成型部位双曲率厚度进行测量,以判定弹簧片的零件质量是否合格。如附图2所示,现有的双曲率厚度测量装置测量的可靠性不能保证。其原因是如附图3所示,随着测量装置使用时间的推移,上探头和下探头会产生磨损、偏移现象导致同轴性不良,也无法自检本身测量的准确性。

发明内容

本发明的目的就是针对上述现有的双曲率厚度测量装置无法自检上探头和下探头同轴度导致产生测量误差的技术缺陷,提供一种同轴双曲率厚度测量装置,能随时自检上探头和下探头的同轴性,保证测量数据的准确性,任何时候都可以调节下探头位置确保与上探头同轴性;而且调节方便、灵活、效率高,整个装置结构简单合理。

技术方案

为了实现上述技术目的,本发明设计的同轴双曲率厚度测量装置,其特征在于:它包括数显表、支架座、上探头、下探头、移动块、固定块、弹性体和调节螺钉,所述固定块固定在支架座的底板上,所述弹性体装在所述固定块上的槽的槽壁上的凹槽内,所述移动块装在所述固定块上的槽内能够水平移动,所述调节螺钉旋装在所述固定块上的槽的槽壁上的安装孔中,所述弹性体抵住所述移动块,所述调节螺钉抵住所述移动块能够调节所述移动块在所述槽内的位置,所述下探头固定装在所述移动块上,所述数显表固定装在支架座的座板上的孔中,所述上探头固定装在所述数显表的感应端与所述下探头4对应。

优选地,所述弹性体为弹簧或橡胶。

优选地,所述支架座为U形。

优选地,所述弹性体和调节螺钉对称装在所述固定块的两侧端。

有益效果

本发明提供的一种同轴双曲率厚度测量装置,不需要借用辅助、专用检具检测双曲率厚度测量装置的准确性和可靠性;能随时自检上探头和下探头的同轴性,保证测量数据的准确性,任何时候都可以调节下探头位置确保与上探头同轴性;而且调节方便、灵活、效率高,整个装置结构简单合理。

附图说明

附图1是弹簧片的结构示意图。

附图2是现有的双曲率厚度测量装置的产品图。

附图3是现有的双曲率厚度测量装置产生误差示意图。

附图4是本发明实施例测量状态结构示意图。

附图5是本发明实施例的主视图。

附图6是本发明实施例调节原理示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例,对本发明做进一步说明。

实施例

如图4所示,同轴双曲率厚度测量装置,其特征在于:它包括数显表1、支架座2、上探头3、下探头4、移动块5、固定块6、弹性体7和调节螺钉8,所述固定块6固定在U形支架座2的底板201上,所述弹性体7装在所述固定块6上的槽601的槽壁上的凹槽内601a,具体地讲,本实施例中,所述弹性体7为弹簧或橡胶。

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