[发明专利]存储器装置及用于其的测试电路

权利要求书

1.一种存储器装置，其特征在于，包括：

地址锁存器，具有地址信号输入端和块选择使能信号输入端，分别用于接收地址信号和块选择使能信号，所述地址锁存器输出地址控制信号和块选择控制信号；

测试模式选择单元，具有测试模式选择指令输入端，用于接收测试模式选择指令信号，所述测试模式选择单元根据所述测试模式选择指令信号输出测试模式选择信号；

块选择单元，连接于所述地址锁存器和所述测试模式选择单元，所述块选择单元用于根据所述块选择控制信号和所述测试模式选择信号输出块选择信号；

第一存储模块，连接于所述块选择单元和所述地址锁存器，当根据所述块选择信号使能所述第一存储模块时，所述第一存储模块将所述地址控制信号译码并输出第一输入输出数据；

第二存储模块，连接于所述块选择单元和所述地址锁存器，当根据所述块选择信号使能所述第二存储模块时，所述第二存储模块将所述地址控制信号译码并输出第二输入输出数据；以及

输出缓存器，具有多个输入输出端口，所述输出缓存器连接于所述测试模式选择单元，并连接于所述第一存储模块和所述第二存储模块，当所述存储器装置根据所述测试模式选择信号进入第一测试模式时，所述输出缓存器将部分输入输出端口置于禁用状态，并将所述第一输入输出数据和所述第二输入输出数据先后从未禁用的输入输出端口输出。

2.根据权利要求1所述的存储器装置，其特征在于，所述存储器装置还包括：

测试模式读写逻辑单元，连接于所述第一存储模块与所述输出缓存器之间，以及所述第二存储模块与所述输出缓存器之间，并连接于所述地址锁存器和所述测试模式选择单元，用于根据所述块选择控制信号和所述测试模式选择信号对所述第一输入输出数据和所述第二输入输出数据进行逻辑处理，以得到逻辑处理结果；

其中，当所述存储器装置根据所述测试模式选择信号进入第二测试模式时，所述输出缓存器将部分输入输出端口置于禁用状态，并将所述逻辑处理结果从未禁用的输入输出端口输出。

3.根据权利要求2所述的存储器装置，其特征在于，所述第二测试模式包括第一测试子模式和第二测试子模式；

当所述存储器装置根据所述测试模式选择信号进入第一测试子模式时，所述测试模式读写逻辑单元用于将所述第一输入输出数据和所述第二输入输出数据与期望数据执行逻辑异或处理，得到第一逻辑处理结果；

当所述存储器装置根据所述测试模式选择信号进入第二测试子模式时，所述测试模式读写逻辑单元用于对所述第一输入输出数据和所述第二输入输出数据执行逻辑异或处理，得到第二逻辑处理结果。

4.根据权利要求3所述的存储器装置，其特征在于，所述测试模式读写逻辑单元包括：

寄存器，用于输出期望数据；

第一数据比较器，连接于所述寄存器、所述第一存储模块以及所述第二存储模块，用于将所述第一输入输出数据和所述第二输入输出数据与所述期望数据执行逻辑异或处理，得到所述第一逻辑处理结果；

第二数据比较器，连接于所述第一存储模块以及所述第二存储模块，用于将所述第一输入输出数据与所述第二输入输出数据执行逻辑异或，得到所述第二逻辑处理结果；以及

多路选择器，所述多路选择器的输入端连接于所述第一数据比较器、所述第二数据比较器以及所述测试模式选择单元，所述多路选择器的输出端连接于所述输出缓存器，所述多路选择器用于在所述测试模式选择信号的控制下输出所述第一逻辑处理结果和所述第二逻辑处理结果的任一者。

5.根据权利要求2所述的存储器装置，其特征在于，所述输出缓存器包括：

第一缓存器组，包括多个第一缓存器，所述第一缓存器的输入端连接于所述第一存储模块，多个所述第一缓存器的输出端形成第一组输入输出端口，其中，所述第一缓存器的输出端置于未禁用状态；

第二缓存器组，包括多个第二缓存器，所述第二缓存器的输入端连接于所述第一存储模块，多个所述第二缓存器的输出端形成第二组输入输出端口，其中，所述第二缓存器的输出端根据所述测试模式选择信号置于禁用状态；以及

第三缓存器组，包括多个第三缓存器，所述第三缓存器的输入端连接于所述第二存储模块，多个所述第三缓存器的输出端形成第三组输入输出端口，其中，所述第三缓存器的输出端根据所述测试模式选择信号置于禁用状态。