[发明专利]区块管理方法、存储器控制电路单元与存储器存储装置有效
申请号: | 201810207659.2 | 申请日: | 2018-03-14 |
公开(公告)号: | CN110275668B | 公开(公告)日: | 2022-09-13 |
发明(设计)人: | 林小东;李明彦;李国荣 | 申请(专利权)人: | 群联电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06;G06F12/02;G06F11/10 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 马雯雯;臧建明 |
地址: | 中国台湾*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 区块 管理 方法 存储器 控制电路 单元 存储 装置 | ||
1.一种区块管理方法,用于管理可复写式非易失性存储器模块中的多个实体区块,其特征在于,所述区块管理方法包括:
写入测试数据至所述多个实体区块中的第一实体区块中;
从所述多个实体区块中的所述第一实体区块中读出所述测试数据,以获得对应于所述第一实体区块的多个参数;
依据对应于所述第一实体区块的所述多个参数和所述多个参数与所述多个实体区块的分组之间的规则将所述第一实体区块分组至第一区块群或第二区块群;
建立第一区块映射表与第二区块映射表;
对属于所述第一区块群的实体区块进行排序;
将所述第一区块映射表的逻辑地址映射至属于所述第一区块群的实体区块;
对属于所述第二区块群的实体区块进行排序;以及
将所述第二区块映射表的逻辑地址映射至属于所述第二区块群的实体区块,
其中所述多个参数包括错误比特位置参数,所述错误比特位置参数是根据从每一所述多个实体区块中读出所述测试数据中,在上实体程序化单元的多个错误比特的分布、在中实体程序化单元的多个错误比特的分布及在下实体程序化单元的多个错误比特的分布来获取,以及
所述多个参数与所述多个实体区块的分组之间的规则包括:
当从所述多个实体区块中的一实体区块读取的所述测试数据在错误检查与校正操作中被校正时,将所述实体区块分组为所述第一区块群;以及当从所述多个实体区块中的另一实体区块读取的另一测试数据在所述错误检查与校正操作中无法被校正并且在重读操作后被校正时,将所述另一实体区块分组为所述第二区块群。
2.根据权利要求1所述的区块管理方法,其中所述第一区块映射表的逻辑地址排列在所述第二区块映射表的逻辑地址之前。
3.根据权利要求2所述的区块管理方法,其中存储在所述第一区块映射表的逻辑地址的数据的覆写频率大于存储在所述第二区块映射表的逻辑地址的数据的覆写频率。
4.根据权利要求1所述的区块管理方法,其中所述多个参数还包括读取忙碌时间参数与存储保持力参数的至少其中之一。
5.根据权利要求1所述的区块管理方法,还包括:
当从所述第一实体区块读出的所述测试数据在错误检查与校正操作中无法被校正并且在重读操作后被校正时,将所述第一实体区块分组至所述第二区块群。
6.根据权利要求1所述的区块管理方法,其中对属于所述第一区块群的实体区块进行排序包括:
将所述第一区块映射表的逻辑地址映射至属于所述第一区块群的实体区块之前,排序属于所述第一区块群的实体区块。
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