[发明专利]利用OCT系统测量人工培植珍珠层厚度的方法

说明书

本发明涉及对珍珠层厚度进行测量的技术领域，具体公开了一种利用OCT系统测量人工培植珍珠层厚度的方法，其包括以下步骤：步骤一，在时域OCT系统下，取得反射光的亮度值以显示断层图像，取得珍珠层的横断面图像；步骤二，根据横断面图像，估算珍珠层内部和外部的轨迹；步骤三，根据珍珠层内部和外部的轨迹，计算珍珠层的厚度。本发明采用OCT技术对珍珠层厚度进行测量，可以准确地检测珍珠珠面的圆浑度、珍珠层的均匀性等；对珍珠不会造成损耗，保证了测量的安全性；检测的精度高，满足国家标准的检测方式达到的精度。

技术领域

本发明涉及珍珠层厚度测量技术领域，尤其涉及利用OCT系统对珍珠的珍珠层厚度进行测量的方法。

背景技术

珍珠层的厚度直接影响到其表面的光泽。珍珠光泽是由内部的多层结构对光的反射、折射和干涉等作用而产生，珠层的厚度越大，光泽就越强，价值也越高。据《中华人民共和国国家标准GB∕T18781—2008》，珠层的厚度被列为评判珍珠优劣的要素之一。其厚度是指珠核表面到珍珠表层之间的垂直距离，一般认为宝石级珍珠最低珍珠层厚度为0.3mm，而光泽明亮而圆润的珍珠，其珠层的厚度则可达0.5mm以上。业界为节省时间，大多会偏向使用直接测量法(在实验室里通过装有标尺的显微镜进行测量)来量度珠层厚度，然而，该量度方法难以准确地检测珠面的圆浑度、珍珠层的均匀性等。

光学相干层析扫描技术（OCT，Optical Coherence Tomography）是一种新兴的光学成像技术，利用非接触式成像的光学特点，取得断层结构图像。相对于传统的临床成像手段来说，OCT具有分辨率高、无辐射损伤、 结构紧凑等优点，常套用在如眼科、皮肤科、胃肠内窥镜检查、血管内成像和肿瘤学成像技术等等。它能够对高散射介质内部几个毫米深度范围内的微小结构进行高分辨率非侵入成像，因而测量出被测物体的表层厚度。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：提出一种新的对珍珠的珍珠层厚度进行测量的方法，以准确地检测珠面的圆浑度、珍珠层的均匀性等。

为了解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是：一种利用OCT系统测量人工培植珍珠层厚度的方法，包括以下步骤：

步骤一，在时域OCT系统下，取得反射光的亮度值以显示断层图像，取得珍珠层的横断面图像；

步骤二，根据横断面图像，估算珍珠层内部和外部的轨迹；

步骤三，根据珍珠层内部和外部的轨迹，计算珍珠层的厚度。

优选的，步骤二包括如下步骤：

假设珍珠为球体，使用方程（1）计算珍珠层内部轨迹，

（1）

方程（1）中，和为横断面图像内最内围取样的数据点，为珍珠球体的垂直面内的圆心，为珍珠层内部曲率半径，为珍珠层内部轨迹；

使用方程（2）计算珍珠层外部轨迹，

（2）

方程（2）中，X_o 和Y_o为横断面图像内最外围取样的数据点，为珍珠球体的垂直面外的圆心，为珍珠层外部曲率半径，为珍珠层外部轨迹。

优选的，步骤三包括如下步骤：

使用方程（3）计算珍珠层的厚度，

(3)

方程(3)中, 珍珠层外部轨迹分为n个点，每一个点选取最短往珍珠层内部路径，珍珠层的厚度t为最短往珍珠层内部路径总和后的平均值。

优选的，珍珠层外部轨迹分为25个点 (n = 25)。