[发明专利]光纤光栅温度传感器响应时间测试装置在审

专利信息
申请号: 201810103124.0 申请日: 2018-02-01
公开(公告)号: CN108151917A 公开(公告)日: 2018-06-12
发明(设计)人: 潘玉恒;鲁维佳;刘毅;刘珂;王佶盛 申请(专利权)人: 天津城建大学;天津求实飞博科技有限公司
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 程小艳
地址: 300384*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 环形器 光纤光栅温度传感器 参考光纤光栅 时间测试装置 响应 侧端 波长调节机构 光栅中心波长 光电探测器 环形器端口 数据采集卡 信号线顺序 待测光纤 光纤光栅 宽带光源 模块封装 时间测试 复杂度 线连接 串联 匹配 测试 计算机
【权利要求书】:

1.光纤光栅温度传感器响应时间测试装置,主要由以信号线顺序连接的宽带光源、环形器模块、光电探测器和数据采集卡、计算机构成,所述环形器模块封装于外壳内,所述环形器模块内串联有第一环形器和第二环形器,所述第一环形器与第二环形器的端口以线连接,所述第一环形器的侧端连接有待测光纤光栅,所述第二环形器的侧端连接有参考光纤光栅;

所述光电探测器是将输入的光信号转化为模拟电压信号;

所述数据采集卡采集由光电探测器得到的模拟电压信号,并输出给计算机;

所述计算机将由数据采集卡采集到的信号进行存储、显示和分析;

其特征在于,所述参考光纤光栅上设置有波长调节机构,所述参考光纤光栅具有可调的中心波长1525-1565nm,以匹配所述待测光纤光栅中心波长;所述波长调节机构主要由设置于所述参考光纤光栅两端的光纤夹持器和设置于所述光纤夹持器下部且用于固定所述参考光纤光栅的位移台构成,所述位移台由底板和位于底板上的左右两边的光纤专用位移台构成。

2.根据权利要求1所述的光纤光栅温度传感器响应时间测试装置,其特征在于,所述位于底板上的左右两边的光纤专用位移台相距100-300mm,分辨率为1μm。

3.根据权利要求1所述的光纤光栅温度传感器响应时间测试装置,其特征在于,所述第一环形器的Ⅲ端口与所述第二环形器的Ⅰ端口相连。

4.根据权利要求1所述的光纤光栅温度传感器响应时间测试装置,其特征在于,所述第一环形器的Ⅰ端口、Ⅱ端口分别经法兰盘引出至所述外壳,所述第一环形器的Ⅰ端口、Ⅱ端口分别接宽带光源、待测光纤光栅。

5.根据权利要求1所述的光纤光栅温度传感器响应时间测试装置,其特征在于,所述第二环形器的Ⅱ端口、Ⅲ端口分别通过法兰盘引出至所述外壳,所述第二环形器的Ⅱ端口、Ⅲ端口分别接参考光纤光栅、光电探测器。

6.根据权利要求1所述的光纤光栅温度传感器响应时间测试装置,其特征在于,所述光纤夹持器为光纤夹具。

7.根据权利要求1所述的光纤光栅温度传感器响应时间测试装置,其特征在于,所述宽带光源采用C波段或C+L波段的宽带光源,输出功率在5-20mW。

8.根据权利要求1所述的光纤光栅温度传感器响应时间测试装置,其特征在于,所述底板由长200mm,宽60mm,厚度为5mm的不锈钢板构成。

9.根据权利要求1所述的光纤光栅温度传感器响应时间测试装置,其特征在于,所述数据采集卡型号为NI USB-6361。

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