[发明专利]基于多特征波长的苹果糖度近红外检测装置及其检测方法

说明书

基于多特征波长的苹果糖度近红外检测装置及其检测方法，属于水果检测技术领域，本发明为解决现有水果品质无损检测技术操作复杂、携带困难、成本高的问题。本发明所述检测装置包括检测本体和按键与显示装置；按键与显示装置通过信号线与检测本体连接；检测本体包括铝盒外壳、主控电路板、检测放大滤波电路板、光路机械结构和多特征波长光源；铝盒外壳包括外壳体和外壳盖；外壳盖安装在外壳体上；主控电路板安装在外壳体的底部，位于检测放大滤波电路板的下方；检测放大滤波电路板安装在光路机械结构的漫反射光信号通道的下方；多特征波长光源置于光路机械结构的光源通道内；光路机械结构安装在外壳盖下方。本发明用于检测苹果的糖度。

技术领域

本发明涉及一种水果糖度近红外无损检测装置及其检测方法，特别涉及一种基于多特征波长的苹果糖度近红外检测装置及其检测方法，属于水果检测技术领域。

背景技术

水果产业是我国国民经济生活中的重要产业，水果的品质更是直接关系到个人生活。目前我国水果产业存在亩产量低、出口量占总产量比率低、出口价格低、采后商品化处理率低等问题，关键在于现有水果品质检测技术的实用性不足。

目前，水果品质无损检测技术主要使用近红外检测技术。现有近红外检测技术根据近红外光谱分析水果的品质信息，就需要使用光谱仪设备，而光谱仪价格昂贵、不易操作、不便携带。

发明内容

本发明是为了解决现有水果品质无损检测技术操作复杂、携带困难、成本高的问题，提出的基于多特征波长的苹果糖度近红外检测装置及其检测方法。

本发明所述的基于多特征波长的苹果糖度近红外检测装置，该检测装置包括检测本体和按键与显示装置；

按键与显示装置通过信号线与检测本体连接；

检测本体包括铝盒外壳、主控电路板、检测放大滤波电路板、光路机械结构和多特征波长光源；

铝盒外壳包括外壳体和外壳盖；外壳盖安装在外壳体上；

主控电路板安装在外壳体的底部，位于检测放大滤波电路板的下方；

检测放大滤波电路板安装在光路机械结构的漫反射光信号通道的下方；

多特征波长光源置于光路机械结构的光源通道内；

光路机械结构安装在外壳盖下方。

本发明所述的基于多特征波长的苹果糖度近红外检测装置的检测方法，该检测方法的具体过程为：

步骤1、将苹果样品置于光路机械结构上，采集苹果样品在各特征波长下的漫反射信号电压值；

步骤2、采用折光计测量苹果样品的糖度真实值；

步骤3、根据漫反射信号电压值和糖度真实值，建立苹果糖度的预测模型，对预测模型进行预测分析；

步骤4、将待测样品置于光路机械结构上，采集待测苹果的电压比值，将电压比值代入到预测模型中，获得待测苹果的糖度的预测值。

相对于现有技术，本发明获得的有益效果是：

本发明提出的基于多特征波长的苹果糖度近红外检测装置的检测方法，通过检测特征波长下漫反射信号的电压值，经过数据处理后，用电压比值与糖度值建立预测模型，该方法具备数据采集处理方式简单、模型容易实现、检测快速等优点。

本发明的基于多特征波长的苹果糖度近红外检测装置，具有无损检测、操作简单、检测速度快、微型化方便携带、成本低等优点。

附图说明

图1是本发明所述基于多特征波长的苹果糖度近红外检测装置的结构裂解图；

图2是本发明所述光路机械结构的剖面图；

图3是图2的俯视图；