[发明专利]清洁装置及清洁方法、晶圆加工装置及加工方法在审

专利信息
申请号: 201810052706.0 申请日: 2018-01-19
公开(公告)号: CN108273774A 公开(公告)日: 2018-07-13
发明(设计)人: 卢思源;张文福;高英哲 申请(专利权)人: 德淮半导体有限公司
主分类号: B08B1/00 分类号: B08B1/00;B08B1/02;B08B5/04;H01L21/677
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 徐文欣;吴敏
地址: 223302 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 清洁头 清洁装置 吸气孔 清洁面 晶圆加工 清洁结构 背面 清洁度 待清洁部件 吸气设备 清洁 加工 连通 暴露 贯穿
【说明书】:

发明提供一种清洁装置及清洁方法、晶圆加工装置及加工方法,清洁装置包括:清洁头,所述清洁头包括相对的背面和清洁面;位于所述清洁头中的吸气孔,所述吸气孔自所述清洁头背面贯穿至清洁面;连通所述吸气孔的吸气设备;位于所述清洁头清洁面表面的清洁结构,所述清洁结构暴露出所述吸气孔。所述清洁装置能够增加待清洁部件表面的清洁度。

技术领域

本发明涉及半导体制造技术领域,尤其涉及一种清洁装置及清洁方法、晶圆加工装置及加工方法。

背景技术

现有的半导体技术中,对晶圆进行加工的过程中,需要通过机械手臂获取晶圆,并将所述晶圆放置于工作台上进行加工。

在单片清洁晶圆的装置中,为了防止直接接触污染,一般会将晶圆传送设备设计为两个手臂,分别夹取清洁前和清洁后的晶圆。但是,随着清洁工艺的进行,夹取清洁前晶圆的手臂污染物沾附较多,在手臂行进、停止过程中,由于惯性作用,污染物会逸散到空气中,对清洁后的晶圆造成污染。

目前在单片清洁晶圆的装置没有清洁传送手臂的装置,这样就会增加晶圆被二次污染的风险。

发明内容

本发明解决的问题是提供一种清洁装置及清洁方法、晶圆加工装置及加工方法,能够减少晶圆的污染。

为解决上述问题,本发明提供一种清洁装置,包括:清洁头,所述清洁头包括相对的背面和清洁面;位于所述清洁头中的吸气孔,所述吸气孔自所述清洁头背面贯穿至清洁面;连通所述吸气孔的吸气设备;位于所述清洁头清洁面表面的清洁结构,所述清洁结构暴露出所述吸气孔。

可选的,所述清洁结构包括:分别固定于所述清洁头表面的清洁刷和清洁擦;所述清洁刷包括多根清洁线;所述清洁刷的硬度大于所述清洁擦的硬度。

可选的,所述清洁刷的个数为多个,且多个所述清洁刷围绕所述清洁面中心均匀分布;所述清洁擦包围多个所述清洁刷。

可选的,所述清洁擦的材料为聚乙烯醇;所述清洁刷的材料为聚丙烯。

可选的,所述清洁头的清洁面包括中心区和包围所述中心区的清洁区,所述吸气孔包括位于所述中心区的第一吸气孔,所述清洁结构位于所述清洁区,所述清洁结构包围所述第一吸气孔。

可选的,所述清洁面包括清洁区和包围所述清洁区的外围区;所述清洁结构位于所述清洁区,所述吸气孔包括:位于所述外围区的第二吸气孔。

可选的,所述第二吸气孔的个数为多个,所述第二吸气孔平行于所述清洁面的截面为圆形或矩形;或者,所述第一吸气孔的个数为单个,所述第二吸气孔平行于所述清洁面的截面为环形。

可选的,还包括:连接所述清洁头的第一驱动设备,用于控制所述清洁头的移动。

相应的,本发明技术方案提供一种清洁方法,包括:提供清洁装置;提供待清洁部件;使所述清洁结构与所述待清洁部件接触;使所述清洁结构与所述待清洁部件接触之后,通过所述清洁装置对所述待清洁部件进行清洁处理,所述清洁处理包括:通过所述清洁结构对所述待清洁部件进行摩擦处理,并使所述吸气设备通过所述吸气孔对所述清洁部件进行吸气处理。

本发明技术方案提供一种晶圆加工装置,包括:加工设备,用于对晶圆进行加工;传送设备,用于获取晶圆,并将晶圆放置于所述加工设备中;清洁装置,所述清洁装置用于对所述传送设备进行清洁。

可选的,还包括:传送箱,用于传送晶圆;所述传送设备包括:第一机械手臂,所述第一机械手臂用于获取晶圆并将所述晶圆放置于所述传送箱中;第二机械手臂,用于获取所述传送箱中的晶圆,并将晶圆放置于所述加工设备中;所述清洁头固定于所述传送箱内壁表面。

可选的,所述加工设备包括承载平台,所述承载平台包括用于与晶圆接触的承载面,所述承载面暴露于空气中,所述传送设备用于将晶圆放置于所述承载面;加工头,用于对所述承载面表面的晶圆进行加工。

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